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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學測量儀>其它光學測量儀>760500 紅外焦平面探測器測試系統

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760500 紅外焦平面探測器測試系統

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紅外焦平面

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聯合光科技(北京)有限公司是一家以光學元件、激光光學元件、成像鏡頭、光機元件、光電儀器為主要產品的現貨供應商,宗旨是為客戶提供質量可靠的產品和優質的一站式采購服務。公司總部在北京,在山東泰安、深圳、長春、重慶、昆明、株洲等地設有辦事處、檢測中心和生產基地;擁有銑磨機、研磨機、拋光機、鍍膜機等加工設備若干臺,同時擁有ZYGO 激光干涉儀、LAMDA 750分光光度計、ZEISS 三坐標測量儀、TRIOPTICS 測角儀、 TRIOPTICS 高精度MTF測量儀、德國ARGOS 光學元件表面自動檢測系統、OptiCentric單光路中心偏測量儀等檢測儀器設備若干臺,對標行業標準客戶提供高性價比的現貨標準品及定制服務。 公司目前有上萬種現貨光學元件、成像鏡頭、光機元件等標準品供您選擇,與此同時,我們也在不斷優化豐富產品種類,爭取為您提供更好的服務。 產品方面:公司配備有專業的檢測設備,對標科研標準。 服務方面:公司配套的專業人員,通過售前支持和售后的維護來保障客戶的權益。 銷售方面:公司總部位于北京,同時在深圳、上海、山東、長春設立辦事處,可以更好的服務客戶。 希望我們的產品可以替代昂貴的進口產品,讓我們的產品在客戶手中發揮作用,客戶可以體驗到高性價比。 我們也會不斷豐富產品的種類,同時要追求更高的產品質量和高品質服務,與用戶共同成長,為中國光學事業的進步,貢獻一份力量。

主要產品:

l  光學元件(標準光學鏡片、高功率激光窗口鏡片、定制光學元件、偏振元件)

l  英國ULO CO2紅外光學材料、鏡片、光學器件

l  光機械部件(壓電電控平臺,光學防震桌,光學調整架,手動位移臺,光機組件,光橋系統)

l  全系列高品質工業成像鏡頭(定焦/遠心/線掃/變焦變倍/特殊定制鏡頭)、照明光源

l  光學測量儀器

?  德國MarOpto- 輪廓儀、干涉儀(傾斜波干涉儀、斐索干涉儀、動態干涉儀、干涉測量軟件、斷面檢測、表面檢測)

?  德國Dioptic- ARGOS 表面疵病檢測儀、光纖端面缺陷檢測

?  日本壺坂Tsubosaka-鏡頭/相機鬼影、雜散光測試系統;可調色溫、亮度光源;鏡頭焦點偏差、光圈、閃光燈、快門測量、手機防抖測試系統;太陽燈

?  美國 Bristol- 非接觸式測厚儀

?  美國Optometrics- 衍射光柵、分光器件、線柵偏振片、Minichrom™ 單色儀等

?  德國Artifex-光功率計、跨阻抗放大器、門控積分放大器、LIV激光二極管和LED特性測試系統、積分球、激光二極管驅動器

?  波蘭inframet-可見光電視相機測試系統(TVT)、紅外熱像儀測試系統(DTLAFTSAFT)、夜視儀測試系統(NVTNVSNVB)、激光測距機測試系統(LTLTFLTE)、二代像管像增強器測試系統(ITS-IITS-PITS-R)、條紋管測試系統(SPTSTT)、多傳感器測試系統(JTMS)、被動式THz成像儀測試系統(THP)、短波成像儀測試系統(ST)、紫外成像儀測試系統(UT)以及紅外熱像儀計算機模擬器(Simterm)等

?  美國Headwall -高光譜成像、拉曼光譜儀、衍射光學元件

?  其他-SPF防曬指數測試儀;大氣測量輻射計/光度計;Mini-Chrom單色儀;激光二極管測試分析系統;積分球;激光功率探測器;光伏測試太陽模擬器;固態光電倍增管等等


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產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 綜合
外焦平面探測器是熱成像系統最重要的核心部件。探測器電路(機芯)的設計是一個新的熱成像系統的關鍵部分。紅外焦平面技術或熱像儀技術方面的專業人員必須精確地了解紅外焦平面探測器參數方面的知識,這是因為紅外焦平面探測器的參數決定了熱像儀系統的性能極限。因此測量紅外焦平面探測器性能的測量設備是研發紅外熱成像系統的關鍵。 
通常由探測器生產廠家提供的技術資料給出的信息對于電路設計者來說很有限。有時候廠家提供的參數并不是十分準確。采用改進的控制信號可以提高探測器的性能。結果設計團隊肯要花費幾年的時間來研發針對每種型號焦平面探測器的機芯。當采用不同的焦平面探測器是還需要重復整個過程。在這種情況下需要一個通用靈活的機芯可以與不同廠家的焦平面探測器匹配,并且能夠半自動確定對某種探測器的控制信號。
FT焦平面測量系統是一個模塊化測量系統,它能夠完成如下兩個任務。一是能夠測量焦平面探測器的所有重要參數;而是能夠半自動確定某種探測器控制信號。
紅外焦平面探測器最終的產品(與讀出電路集成的)是現代熱像儀的核心。二維焦平面實際上可以看成是沒有輸入光學和輸出觀察系統的熱像儀。有許多的一系列特性可以用來描述現代二代和三代紅外焦平面。一些參數如MTF、NETD、FPN、非均勻性,相對光譜靈敏度曲線等和描述熱像儀系統的參數是一致的。也有一些參數如串擾、點掃描,來源于傳統分立探測器的特性參數如歸一化NEP和D*是焦平面探測器所有的。
FT測量系統一個模塊化的實驗室內使用的系統。由于采用了模塊化設計,FT測量系統可以方便快速地配置成三個半獨立的測量的工作站放置在實驗室光學平臺上:FT-N,FT-I,和FT-S。
<strong><strong>紅外焦平面探測器測試系統</strong></strong>

  • FT-N:測量紅外焦平面探測器的噪聲和響應特性

  • FT-I:測量紅外焦平面探測器的成像質量特性 

  • FT-S:測量紅外焦平面探測器的光譜響應特性




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