Langer射頻耦合套組（IC測試系統）

品牌：Langer EMV-Technik   

型號：P501/P503 set

Langer IEC 62132-4射頻注入功率到3GHz

Langer射頻耦合套組（IC測試系統）P501/P503 set介紹：

使用 Langer EMV-Technology 的探針測量的優勢在使用 P500系列(P501，P502，P503)的探針進行抗擾測量期間，每個單獨的 IC 引腳(例如 QFP，QFN 封裝)甚至 BGA 的球可以單獨接觸并暴露于 RF。測量對應于根據 IEC 62132-4的 DPI 方法，其中通常連接在引腳處用于耦合 RF 的網絡包括在相應的探針中。這使得測量的頻率范圍可以擴展到3GHz。此外，探針包含一個集成的電流和電壓測量，這使得 IC 的優化以及應用要求的定義成為可能。

Langer射頻耦合套組（IC測試系統）P501/P503 set配置:

1x P501, DPI耦合網絡（~3GHz，50V）

1x P503, DPI 耦合網絡（~1GHz，50V）

1x SMA-SMA 1 m ds

2x SMA-SMB 1 m ds

1x NT FRI EU

1x P500 case

1x P500 qg

1x P500 m

簡短的介紹：

P501型耦合網絡按照IEC 62132-4標準在集成電路引腳中進行射頻供電。當施加干擾時能夠在集成的測量輸出端口分別測量電流和電壓。P501型耦合網絡工作時與一個功率放大器相連。

P503型耦合網絡按照IEC 62132-4標準在集成電路引腳中進行射頻供電。當施加干擾時能夠在集成的測量輸出端口分別測量電流和電壓。P503型耦合網絡工作時與一個功率放大器相連。