YP-XM 小麥表型測量儀
參考價 | ¥36000.00 |
- 公司名稱 山東優云譜光電科技有限公司
- 品牌優云譜
- 型號YP-XM
- 所在地濰坊市
- 廠商性質生產廠家
- 更新時間2024/6/4 14:39:56
- 訪問次數 649
YP-XM | 36000.00元 | 900 套可售 |
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產地類別 | 國產 |
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優云譜小麥表型測量儀
小麥育種研究中,小麥表型參數至關重要,小麥表型檢測儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標的測量,可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。這些表型參數在小麥品種篩選、小麥產量預測、麥穗動態發育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發揮著至關重要的作用。軟件集合多方面功能為一體,一站式解決小麥的表型參數測量問題。廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的小麥研究。
優云譜小麥表型測量儀應用廣泛:
1、小麥畝穗數檢測合適時期: 小麥抽穗期、開花期、灌漿期、成熟前期的小麥。
2、麥穗形態測量的時期:室內考種時期:
3、小麥夾角測量時期:抽穗期、開花期、灌漿期、乳熟期。
4、千粒重測量時期: 室內考種時期。
5、小麥株高測量時期: 各個生育時期。
三、技術參數:
測量范圍和誤差:
1、小麥畝穗數測量誤差: ≤±5%。
2、麥穗形態測量范圍: 5~20cm。
穗長誤差: ±2%。
小穗數誤差: ≤ 3個。
3、小麥夾角測量范圍: 0-180°。
作物粗: 0-5.2cm。
夾角測量誤差: +5%。
4、作物莖粗測量誤差: ±1%。
5、千粒重測量誤差: ±2%。
6、株高測量范圍: 0.1-1.1m。
測量誤差: ±1%。