泰勒霍普森粗糙度儀SURTONIC DUO

SURTRONIC DUO 粗糙度儀儀器特點：

1. 泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO快速測量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可

2. 泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO攜帶方便DUO可應用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。

3. 經外接口操作者可在距離被測工件1m處操作測量。

4. 校準方便DUO具有自身校準標準，可預設標準值，通過LCD顯示出來。

5. 測針保護不用時，設“park”位置可全面保護測針。

6. 人體工程學設計

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO技術指標：

1. Ra(算術平均偏差，以前稱為CLA或AA)

2. Rz(平均峰谷高度)

3. Rv(采樣長度內輪廓線以下的大高度)

4. Rp(采樣長度內輪廓線以上的大高度)

5. Rt(剖面大峰谷高度)

6. Rz1max(任何采樣長度內的大峰到谷)

7. 偏度-關于平均線的輪廓對稱度的測量

8. Rq(輪廓線與平均線的偏差值的均方根均方根(rms))

9. Rku(峰度-表面輪廓銳度的測量)