3D 粗糙度重建系統
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 復納科學儀器(上海)有限公司
- 品牌 Phenom/飛納電鏡
- 型號
- 產地 荷蘭
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/1/2 14:46:23
- 訪問次數 2993
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借助 3D 粗糙度重建系統,飛納臺式掃描電鏡(SEM)可以生成樣品的三維圖像,并進行亞微米量級的粗糙度測量?;凇瓣幱帮@形”技術,3D 成像有助于展示樣品特征。
3D
3D 圖像可以幫助用戶更好地理解樣品特點,使得在 2D 圖像中很難分辨的凹坑、劃痕、刻紋等特征,變得清晰可見。
粗糙度
平均粗糙度(Ra)及粗糙高度(Rz)的測量對于生產工藝的控制和改進具有重要意義。使用 SEM 圖像作為信息收集手段,可以獲得比傳統(非直接)手段更佳的分辨率。3D 粗糙度重建模塊是飛納臺式掃描電鏡的理想擴展,特別適用于下列領域:
• 機械加工的質量控制
• 紋理分析
• 證物鑒定
• 缺陷 & 失效分析
• 摩擦學-磨損分析
3D 粗糙度重建系統可在包含多個飛納臺式掃描電鏡(SEM)特定應用程序的 Phenom ProSuite 中獲得。
3D 粗糙度重建系統的主要優點:
• 遠優于光學或機械測量手段
- 高分辨率
- 可測量反光樣品
- 直接測量
- 非破壞性
• 創新性全自動用戶界面
• 基于“陰影顯形”,無需傾斜樣品
• 完整解決方案
• 快速重建
• 直觀的用戶界面