M4 TORNADO PLUS 超輕元素微區X射線熒光成像光譜儀M4 PLUS
- 公司名稱 上海富瞻環保科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號 M4 TORNADO PLUS
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2023/12/29 17:29:21
- 訪問次數 193
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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,食品,化工,制藥 |
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超輕元素微區X射線熒光成像光譜儀M4 PLUS
M4 TORNADO PLUS 產品簡介：
超輕元素微區X射線熒光成像光譜儀M4 TORNADO PLUS是布魯克微區X射線熒光光譜儀M4 TORNADO 系列的新產品，擁有更多特性和功能，例如可檢測出C（6）- Am（95）間全部元素的強大性能、創新性的孔徑管理系統，高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺等。
產品特點：
· 超輕元素窗口SDD探測器，可檢測到輕質元素，如碳元素等
· 高通量脈沖處理器，有效減少測樣時間，提高測試效率
· 孔徑管理系統，更大景深，對表面不平整樣品分析具有特別的優勢
· 快速靈活的樣品臺（可選），模塊化的樣品臺接口，減少樣品的更換和準備時間
· 配備準直器的第二個X射線光管（可選），四種光斑尺寸，高能量線性分析更靈活
· 氦氣吹掃功能（可選），增加元素的分析范圍，在常壓下進行輕質元素分析
應用實例：
1、超輕元素探測器區分螢石和方解石
螢石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區別在于分別存在輕質元素氟（F），氧（O），碳（C），因此無法使用普通的X射線光譜儀來進行檢測區分。M4 TORNADO PLUS具備超輕元素探測器，可以有效的檢測到氟（F）、氧(O)和碳(C)元素，從而可靠地鑒別這兩種礦物。
2、在孔徑管理系統（AMS）下分析電路板
M4 TORNADO PLUS 所具備的孔徑管理系統（AMS）能夠有效提高景深和空間分辨率，景深可達±5mm。這意味著即使樣本表面高度在幾毫米內變化，空間分辨率也不會受損，并且始終保證聚焦樣品特征處。這使得本設備在面對一些對表面分析有更高要求的行業樣本時更具優勢，例如電子學，刑偵或地球科學等。
由于AMS的場深度極深，如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細節。此外，由于激發X射線光子的入口和出口角度減小，光束能量依賴性變得不那么明顯
更多應用案例
M4 Tornado 系列的微區X射線熒光光譜儀具有廣泛的應用環境，目前已經在植物環境、科技考古、地球科學、材料科學、生物工程等領域有著諸多的應用案例。該設備在國內外有專業的應用開發人員，專注于新應用領域的開發。
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