天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Semiconsoft薄膜厚度測量系統MProbe Vis

產品型號：MProbe Vis

產品介紹：MProbe Vis薄膜測量系統是緊湊且多功能的臺式系統。它可以測量不同基板上10nm – 150μm厚度范圍的半透明薄膜。而且，它經濟且易于使用。MProbe Vis（X） 的生產版本設計用于承受振動并使用 LAN 連接 24/7 全天運行。它可用于在線和OEM應用。它與潔凈室環境兼容。MProbe20 VisX系統是MProbe20 Vis系統的一個版本，在更長的波長（>700nm）下具有更高的靈敏度。

性能特點：

經濟且易于使用

參數：

產地：美國

波長范圍（可用）：400-1000nm（典型校準范圍：380-1050nm）和VisX的450nm -1050nm

波長分辨率：< 1nm，20μm狹縫（整個光譜均勻）

厚度范圍 ： 10nm – 150 μm

精度/重復性：<0.01nm 或 0.02%

精度：<1nm或0.2%

測量光斑尺寸：< 1mm（標準）

min數據采集時間：10 μs

光源：5W TH燈，使用壽命10000小時（可選：20W TH燈，使用壽命2000小時）

通信接口：USB和1Gb LAN

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