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LTS-202 -80℃射流高低溫沖擊測試機 循環(huán)風(fēng)控溫裝置
參考價 | ¥ 159355 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司
- 品牌 LNEYA/無錫冠亞
- 型號 LTS-202
- 產(chǎn)地 江蘇省無錫市新吳區(qū)機光電工業(yè)園鴻運路203號
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/1/11 7:59:44
- 訪問次數(shù) 741
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制冷加熱循環(huán)器、加熱制冷控溫系統(tǒng)、反應(yīng)釜溫控系統(tǒng)、加熱循環(huán)器、低溫冷凍機、低溫制冷循環(huán)器、冷卻水循環(huán)器、工業(yè)冷處理低溫箱、低溫冷凍機、加熱制冷恒溫槽等設(shè)備
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 10萬-50萬 |
---|---|---|---|
冷卻方式 | 水冷式 | 儀器種類 | 一體式 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,汽車 |
無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司的半導(dǎo)體控溫解決方案
主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,
?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽能光伏等領(lǐng)域。
【 冠亞制冷 】半導(dǎo)體行業(yè)主營控溫產(chǎn)品:
半導(dǎo)體專溫控設(shè)備
射流式?低溫沖擊測試機
半導(dǎo)體專用溫控設(shè)備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)
Chiller直冷型
循環(huán)風(fēng)控溫裝置
半導(dǎo)體?低溫測試設(shè)備
電?設(shè)備?溫低溫恒溫測試冷熱源
射流式高低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡盤
數(shù)據(jù)中心液冷解決方案
型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
溫度范圍 | 5℃~40℃ | ||||||
控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
流量控制 | 10~25L/min 5bar max | 15~45L/min 6bar max | 25~75L/min 6bar max | ||||
制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
內(nèi)循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
制冷劑 | R410A | ||||||
載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 (DI溫度需要控制10℃以上) | ||||||
進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
溫度擴展 | 通過增加電加熱器,擴展-25℃~80℃ |
-80℃射流高低溫沖擊測試機 循環(huán)風(fēng)控溫裝置
-80℃射流高低溫沖擊測試機 循環(huán)風(fēng)控溫裝置
射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。
是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設(shè)備。
溫度控制范圍:-120℃ 至+300℃,升降溫速率?常快速,150℃?-55℃<10秒,zui??流量:30m3/h;
實時監(jiān)控被測IC真實溫度,實現(xiàn)閉環(huán)反饋,實時調(diào)整?體溫度升降溫時間可控,程序化操作、?動操作、遠程控制
冷熱循環(huán)沖擊測試機是用于測試集成電路在不同溫度下的性能和穩(wěn)定性的設(shè)備,在選購冷熱循環(huán)沖擊測試機時,需要考慮以下幾個方面:
1、測試溫度范圍:根據(jù)需要測試的集成電路的類型和規(guī)格,確定所需的測試溫度范圍。一般來說,冷熱循環(huán)沖擊測試機的溫度范圍應(yīng)該在-120℃到200℃之間,以滿足大多數(shù)半導(dǎo)體的測試需求。
2、溫度穩(wěn)定性:溫度穩(wěn)定性是測試系統(tǒng)的重要指標之一。冷熱循環(huán)沖擊測試機的溫度穩(wěn)定性應(yīng)該足夠高,以保證測試結(jié)果的準確性和可靠性。一般來說,溫度波動范圍應(yīng)該在±1℃以內(nèi)。
3、測試速度:測試速度也是需要考慮的因素之一。冷熱循環(huán)沖擊測試機的測試速度應(yīng)該足夠快,以減少測試時間和提升效率。一般來說,冷熱循環(huán)沖擊測試機測試速度應(yīng)該在每小時測試數(shù)百個樣品以上。
4、測試精度:冷熱循環(huán)沖擊測試機的測試精度應(yīng)該足夠高,以保證測試結(jié)果的準確性和可靠性。一般來說,測試誤差應(yīng)該在±1℃以內(nèi)。