NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對硬度、模量、屈服強度、剛度和其他納米力學(xué)測試進(jìn)行高精確度的測量。在掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）系統(tǒng)中，NanoFlip在測試（例如柱壓縮）方面表現(xiàn)優(yōu)異，可以將SEM圖像與機械測試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip測量迅速，這對于惰性環(huán)境（例如手套箱）中測試異質(zhì)材料很關(guān)鍵。系統(tǒng)所配置的可選套件，例如InForce50電磁驅(qū)動器，可以提供定量結(jié)果，從而為材料研究提供有價值的解決方案。

產(chǎn)品描述
NanoFlip提供高精度XYZ位移，可定位樣品進(jìn)行測試，還提供翻轉(zhuǎn)機制，可定位樣品進(jìn)行成像。InView軟件附帶一套測試方法，涵蓋一系列測試協(xié)議，并允許用戶創(chuàng)建自己的新穎測試方法。InForce50驅(qū)動器在真空和常壓條件下表現(xiàn)同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像，并與機械測試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步。創(chuàng)新的FIB-to-Test技術(shù)允許樣品傾斜90°，無需移除樣品即可實現(xiàn)從FIB到壓痕測試的無縫過渡。

主要功能
InForce 50驅(qū)動器，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭

InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時間常數(shù)

用于樣本定位的XYZ移動系統(tǒng)

SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步

的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)

與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計實驗的方法開發(fā)功能

主要應(yīng)用
硬度和模量測量（Oliver-Pharr）

連續(xù)剛度測量

高速材料性質(zhì)分布圖

ISO 14577硬度測試

聚合物的納米動態(tài)力學(xué)分析（DMA）

定量刮擦和磨損測試
工業(yè)應(yīng)用
大學(xué)、研究實驗室和研究所

支柱和微球制造

MEMS（微機電系統(tǒng)）

材料制造（結(jié)構(gòu)壓縮/拉伸/斷裂測試）

電池和元件制造