安捷倫4155A 4155B 4155C 4156A 4156B 4156C 半導體參數(shù)分析儀     何S：158=8930=0166

安捷倫4155A 4155B 4155C 4156A 4156B 4156C 半導體參數(shù)分析儀

深圳佳捷倫電子儀器有限公司

Agilent 4155A 半導體參數(shù)分析儀提供高分辨率/準確度和寬范圍；I：1 fA 至 100 mA（20 fA 偏移精度），V：1 微 V 至 100 V，采用直流或脈沖模式的全自動 IV 掃描測量，可擴展至 6 個 SMU，同步應力/測量功能，兩個高壓脈沖發(fā)生器單元 (+/- 40 V)，時域測量：60 微秒 - 可變間隔，最多 10,001 個點，易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，自動分析功能和自動化：內(nèi)置 HP儀器 BASIC，觸發(fā) I/Q 功能。

主要特點

兩個高壓脈沖發(fā)生器單元 (+/- 40 V)

時域測量：60 微秒 - 可變間隔高達 10,001 點

易于使用的旋鈕掃描，類似于曲線跟蹤器

自動分析功能

內(nèi)置安捷倫/惠普儀器 BASIC

觸發(fā) I/Q 能力

4145B半導體參數(shù)分析儀設計用于半導體的生產(chǎn)線和實驗室，HP4145B是電子工業(yè)中***個可以獨立對半導體器件和材進行直流參數(shù)的儀器。HP4145B通過對器件加電壓，測電流，HP4145B或加電流測電壓

并將測試結(jié)果顯示在內(nèi)置的CRT顯示器上，結(jié)果可根據(jù)用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。

主要特點

在350μs之內(nèi)就可以完成接觸檢測驗證與報告，有利于保持高速生產(chǎn)效率

可以通過該儀器的前置面板或通過GPIB遠程控制接觸檢測操作

內(nèi)置的“源存儲器”可編程序列發(fā)生器***多可存儲100個不同的測試，以滿足高速生產(chǎn)的需要

高達75000小時MTBF的可靠性設計，為不中斷生產(chǎn)環(huán)境提供了良好的可靠性

內(nèi)置的比較器簡化了pass/fail測試

數(shù)字I/O支持快速鍵合或連接到元件機械手

0.012%的***度，5?的分辨率

HP4145B半導體參數(shù)分析儀設計用于半導體的生產(chǎn)線和實驗室，HP4145B是電子工業(yè)中 個可以獨立對半

導體器件和材料進行直流參數(shù)的儀器。HP4145B通過對器件加電壓，測電流，HP4145B或加電流測電壓并將

測試結(jié)果顯示在內(nèi)置的CRT顯示器上，結(jié)果可根據(jù)用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。

主要特點及優(yōu)點：

  在350μs之內(nèi)就可以完成接觸檢測驗證與報告，有利于保持高速生產(chǎn)效率

  可以通過該儀器的前置面板或通過GPIB遠程控制接觸檢測操作

  內(nèi)置的“源存儲器”可編程序列發(fā)生器 多可存儲100個不同的測試，以滿足高速生產(chǎn)的需要

  高達75000小時MTBF的可靠性設計，為不中斷生產(chǎn)環(huán)境提供了良好的可靠性

內(nèi)置的比較器簡化了pass/fail測試

品種齊全，貨源充足，存庫雄厚，服務快捷，維修能力強。

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