布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設計創新，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性高達 5?。這項測量性能的提高，達到了過去四十年Dektak 體系技術創新的高峰，更加穩固了其行業中的帶頭地位。不論應用于研發還是產品測量，在研究工作中的廣泛使用使得 DektakXT 的功能更強大，操作更簡便易行，檢測過程和數據采集也更加完善。

第十代 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，實現了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。

DektakXT 技術參數

臺階高度重復性 5?

— 單拱龍門式設計實現了突破性的掃描穩定性

— 先進的”智能化電子器件”實現了低噪聲的新 標準

— 新的硬件配置使數據采集能力提高了 40%

— 64 位的 Vision64 同步數據處理軟件，將數 據分析速度提高十倍。 功能強大，操作簡易

— 直觀的 Vision64 用戶界面操作流程簡便易行

— 自對準式探針設計使得更換探針的步驟簡便 易行

— 性能優異, 物超所值

— 獨到的傳感器設計使得在單一平臺上即可實 現超微力和正常力測量。

建立在40多年的探針輪廓技術創新的知識和經驗之上薄膜測試儀，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設計的探針輪廓儀，內置真彩高清光學攝像機，及安裝64-bit并行處理架構已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀

有超過一萬臺設備，品牌Dektak以質量、可靠性及高性價比著稱。當需要臺階高度、表面粗糙度、可靠測量時，人們就會借助Dektak。引進DektakXT，Bruker能讓您進一步獲得可靠及表面測量

利用直接驅動掃描平臺，Dektak XT減少了掃描間的時間，而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時的）的掃描速度。在保證行業的質量和重現性前提下，DektakXT可以將數據采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數據采集分析同步操作軟件Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數據量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數據分析。Vision64還具有行業內有效的直觀用戶界面，簡化了實驗操作設置，自動完成多掃描模式，讓重復和常規的實驗操作變得更快速簡潔。