APD-QE 光感測器量子效率測量儀

參考價	￥3000000-￥6000000/件

具體成交價以合同協議為準

公司名稱 南京芯測軟件技術有限公司
品牌Enlitech
型號APD-QE
所在地南京市
廠商性質生產廠家
更新時間2024/11/7 12:54:40
訪問次數 1474

產品標簽

傳感器光感性能測試光傳感器全光譜量子效率測試儀光傳感器晶圓測試儀

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南京芯測軟件技術有限公司，專業打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產化改造，以及系統集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為國內晶圓級在片測試，器件測量系統軟件、硬件的先進供應商，以滿足國內用戶需求，開發半導體測試設備和系統集成軟件定制化服務。

南京芯測的在專注于在片測試系統設備經銷與晶圓在片測試軟件的研發。涉及的設備包括：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經銷芯片ESD測試系統、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業

展開

探針臺，芯片ESD測試設備，TLP測試設備，CDM測試設備

測量模式	直流	產地類別	進口
價格區間	200萬-400萬	應用領域	電子,航天,汽車,電氣

隨著5G與移動設備的興起與普及，越來越多新型光傳感器被應用于我們的日常生活中，為了能更好的應用在行動裝置上，這些先進光傳感器的組件感光面積越做越小。但這些應用卻對先進光傳感器的光感測性能要求卻越來越高，在感光面積微縮的過程中，也帶來量子效率精準測量的挑戰；例如，傳統聚光型小光斑在不同波長下，色散差造成焦點位移可到mm等級。難以將所有的光子都聚焦到微米等級的感光面積中。因此，難以準確測得全光譜量子效率曲線。

APD-QE 光感測器量子效率測量儀采用光束空間均勻化技術，利用ASTM標準的”Irradiance Mode”測試方式，與各種先進探針臺形成完整的微米級光傳感器全光譜量子效率測試解決方案。APD-QE已被應用于多種先進光傳感器的測試中，例如在iPhone光達與其多種光傳感器、Apple Watch血氧光傳感器、TFT影像傳感器、有源主動像素傳感器(APS)、高靈敏度間接轉換X射線傳感器等。

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