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化工儀器網>產品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線熒光光譜儀(XRF)>EDX8800M MAX 三元催化分析光譜儀

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EDX8800M MAX 三元催化分析光譜儀

具體成交價以合同協議為準

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公司簡介:蘇州英飛思科學儀器有限公司,坐落于美麗而現代的蘇州工業園。公司專注于X射線熒光光譜儀的研發,生產和應用。基于多年的技術積累和沉淀,英飛思擁有整套XRF光譜儀的原生態研發和制造技術,包括50瓦,100瓦高壓發生裝置,50瓦光管的封裝工藝,數字多道分析器(DPP),控制電路板的設計和研發,基本參數法(FP)軟件著作權等。

我們不僅能提供整套光譜儀定制服務,而且能夠提供專業而系統的元素成分分析解決方案,以滿足客戶日益嚴苛而高標準的測試需求。

公司英文全稱:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd

英文縮寫:ESI

公司口號: Simply the best

公司產品:XRF熒光光譜元素分析儀(臺式,便攜式,手持式,全系列光譜儀)

XRF特點:無損測試,快速檢測,準確分析

應用行業

貴金屬,珠寶首飾,稀有金屬

合金元素分析,牌號識別PMI,稀土,有色金屬

礦產,地礦

土壤重金屬

石油,化工(石油中低硫測試,油品中金屬元素分析,船舶用油)

有害元素檢測(RoHS 2.0,玩具,皮革,無鹵分析)

鍍層測厚

催化劑

古董,考古

食品安全,化妝品,藥品重金屬分析

建材,水泥,陶瓷,玻璃

液體及各種粉末等元素測試






光譜儀,熒光光譜儀,XRF,Rohs檢測儀,合金分析儀,測金儀,測硫儀,古董分析儀,礦石分析儀,土壤分析儀,測厚儀,手持式光譜儀,鍍層測厚儀

價格區間 面議 行業專用類型 通用
儀器種類 臺式/落地式 應用領域 化工,石油,地礦,能源,綜合

EDX-8800M MAX XRF Spectrometer

立式X熒光光譜儀

材料分析專家

image.png 

 

Simply the Best

>立式一體化設計,搭配全新高功率樣品激發系統和高計數率探測器

>內置真空泵及氦氣充氣系統適應各種材料成分分析,包括固體,液體,合金,粉末和泥漿

>分析涵蓋范圍11Na鈉 到 92U鈾(元素周期表),可分析氧化物。

>超大鈹窗高分辨探測器配合多組合濾光片系統,有效提高微量元素檢出限

>可搭載樣品自旋平臺,有效提高樣品測量面積

>提供多種數據訪問接口,可兼容LIMS實驗室管理系統

 

EDX8800M MAX能量色散熒光光譜儀-材料分析專家

作為一款高性能的立式高性能X射線熒光(EDXRF材料分析儀,EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發系統,同時搭配了高計數率和高分辨率的FSDD探測器,它提供了出色的線性動態范圍,可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實現更高精度的過程和質量控制

image.png 

 

ESI英飛思EDX8800M MAX光譜儀主要應用于第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所

EDX8800M MAX專注于對各種材料的主量,微量和痕量元素或化合物進行性和定量分析,廣泛應用于:合金材料,貴金屬,鐵礦粉,有色金屬及粉末,冶金,金屬及非金屬礦物礦產,耐火材料、耐火原料、鈦白粉、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業、石英、長石、方解石、粘土、巖棉、土壤、固廢、除塵灰、赤坭、粉煤灰、稀土永磁、石油油品、爐渣等生產原料及成品化學成分定性定量快速分析,快速準確無損高效環保,無需酸堿化學藥劑

 

EDX8800M MAX應用方向

>RoHS篩選測試,有害金屬快速篩查

>石油化工:燃料,潤滑油監測,添加劑,磨損金屬等中的硫元素分析

>環境:廢水,空氣污染,土壤和地面,排放控制

>涂層厚度和薄膜:分析多層涂層,鋼涂層,雜質

>刑偵及公安:證據分析,材料匹配,爆炸物

>食品,化妝品和藥品:添加劑控制,原材料,包裝材料

>科研,高校,材料研發

 

產品特點

配備Peltier電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現性,而且具有出色的元素峰分辨率

能同時進行元素和氧化物成分分析

特別設計的光路和真空系統大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P的測試靈敏度和準確性。可同時選配氦氣系統,實現液體和粉末樣品的直接測試

•八種光路準直系統,根據不同樣品大小自動切換亦可測試樣品不同位置再求平均值,降低樣品不均勻性造成的誤差

高清內置攝像頭,清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

可搭載樣品自旋平臺,增加樣品檢測面積,提高測試準確度和精密度。

image.png 

搭載自旋平臺EDX8800 MAX結構圖

英飛思專用光譜儀成分分析軟件

image.png 

英飛思軟件內核-軟件核心算法包括FP基本參數法,Sherman方程EC經驗系數法,阿爾法α理論參數法。依托于英飛思強大而穩定的硬件系統,加載FP法核心后可以實現元素間增強吸收效應的校正。

>能夠使用非類似標樣標定測試;減少分析需要的標樣數,可以用一個或幾個標樣來分析寬范圍濃度變化的未知成分

>能量校準,波譜穩定,自動譜元素鑒別,死時間修正,和峰修正,逃逸峰修正,重疊修正,背景扣除

>可實時刷新測量結果

>光譜顯示:譜峰重疊比較,可同時顯示多個光譜圖

>多種光譜強度計算方法,高斯擬合,純元素擬合,FP擬合,凈面積,全面積


典型應用測試報告

1合金應用案例

采用壓片法制備樣品,硅鐵粉末樣品10次測試穩定性報告

測量
次數

Si

Al

P

Ca

Cr

Fe

Ni

Cu

Ti

Mn

硅鐵-1

74.1916

1.9012

0.0217

2.033

0.0486

20.7858

0.0112

0.0243

0.0427

0.2371

硅鐵-2

74.0861

1.8382

0.0228

1.9934

0.0426

20.8245

0.0106

0.0222

0.0411

0.216

硅鐵-3

74.1615

1.8326

0.0228

1.9874

0.0425

20.7617

0.0106

0.0221

0.0412

0.2153

硅鐵-4

74.1673

1.8954

0.0217

2.0269

0.0484

20.7231

0.0114

0.0242

0.0426

0.2364

硅鐵-5

74.1118

1.8289

0.0227

1.9834

0.0424

20.7198

0.0104

0.0221

0.0409

0.2149

硅鐵-6

74.1178

1.8916

0.0216

2.0228

0.0483

20.6813

0.0112

0.0239

0.0425

0.236

硅鐵-7

74.1516

1.8062

0.0217

2.0131

0.0486

20.7652

0.0113

0.0241

0.0421

0.2351

硅鐵-8

74.1861

1.8532

0.0228

1.9814

0.0426

20.8015

0.0108

0.0222

0.0413

0.2162

硅鐵-9

74.1715

1.9346

0.0228

1.9754

0.0425

20.7607

0.0106

0.0221

0.0415

0.2143

硅鐵-10

74.1373

1.8958

0.0217

2.027

0.0484

20.7212

0.0108

0.0243

0.0421

0.2394

平均值 

74.14826

1.8678

0.0222

2.0043

0.0455

20.7545

0.0109

0.0232

0.0418

0.2261

標準偏差

0.0343

0.0412

0.0006

0.0223

0.0031

0.0434

0.0004

0.0011

0.0007

0.0114

相對標準
偏差

4.64%

3.91%

0.05%

2.11%

0.29%

4.11%

0.03%

0.10%

0.06%

1.07%

壓片樣品制備步驟:研磨制樣-稱重-混入粘合劑-使用壓片機壓片-上機測試

image.png 

2原材料應用案例

采用熔片法制備樣品,石灰石樣品10次測試穩定性報告

測量

次數

MgO

Al2O3

SiO2

S

K2O

CaO

MnO

Fe2O3

石灰石標樣-1

0.511

0.101

0.338

0.095

0.044

91.166

0.008

0.115

石灰石標樣-2

0.529

0.106

0.338

0.095

0.046

91.255

0.007

0.111

石灰石標樣-3

0.524

0.104

0.348

0.089

0.045

91.038

0.008

0.113

石灰石標樣-4

0.511

0.103

0.328

0.091

0.045

91.327

0.007

0.110

石灰石標樣-5

0.523

0.103

0.348

0.093

0.044

90.883

0.007

0.106

石灰石標樣-6

0.534

0.109

0.357

0.092

0.048

91.124

0.007

0.115

石灰石標樣-7

0.515

0.098

0.346

0.091

0.045

91.143

0.008

0.110

石灰石標樣-8

0.545

0.103

0.328

0.091

0.047

91.079

0.007

0.110

石灰石標樣-9

0.531

0.104

0.348

0.098

0.045

90.722

0.007

0.114

石灰石標樣-10

0.546

0.097

0.339

0.095

0.045

90.772

0.007

0.116

平均值

0.525

0.103

0.342

0.093

0.045

91.043

0.007

0.112

標準偏差

0.0129

0.0034

0.0088

0.0026

0.0012

0.1916

0.0005

0.0031

相對標準偏差

2.46%

3.31%

2.59%

2.78%

2.67%

0.21%

6.85%

2.78%

 

快速熔片法樣品制備步驟:研磨制樣-稱樣-預氧化-加入熔樣試劑-熔片機熔片-冷卻-上機測試

image.png 


3礦石應用案例

采用熔片法制備樣品,石英砂10次測試穩定性報告

測量

次數

MgO

Al2O3

SiO2

CaO

TiO2

Fe2O3

石英石-1

0.0754

0.0921

99.5393

0.0784

0.0072

0.0311

石英石-2

0.0615

0.0856

99.4563

0.0792

0.0071

0.0296

石英石-3

0.0646

0.0825

99.4271

0.0783

0.0072

0.0326

石英石-4

0.0718

0.0896

99.3529

0.0781

0.0082

0.0312

石英石-5

0.0687

0.0754

99.383

0.0783

0.0079

0.0295

石英石-6

0.0792

0.0765

99.3696

0.0781

0.0069

0.033

石英石-7

0.0659

0.0797

99.4711

0.0783

0.0067

0.0286

石英石-8

0.0729

0.0803

99.5004

0.0789

0.0073

0.0301

石英石-9

0.0776

0.0761

99.43296

0.08

0.008

0.0311

石英石-10

0.0631

0.0819

99.4739

0.0783

0.0063

0.0306

平均值

0.07007

0.08197

99.440656

0.07859

0.00728

0.03074

標準偏差

0.0062

0.0057

0.0595

0.0006

0.0006

0.0013

相對標準

偏差

0.59%

0.54%

5.65%

0.06%

0.06%

0.13%

典型石英砂XRF光譜圖

image.png 

 

材料檢測專家EDX8800M MAX

>儀器參數

儀器外觀尺寸: 650mm*600mm*900mm

儀器重量: 105Kg

元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測器:進口高分辨率電制冷FSDD硅漂移檢測器

高通量計數率線性動態范圍:1000-1000000cps ,包括信號增強處理模塊SNE

多道分析器: 4096DPP analyzer 分析器,峰飄小于0.5道(24小時)

X光管:進口高功率鈹窗光管(可選配高功率復合靶材光管)

高壓發生裝置:電壓最大輸出100kV

樣品觀察系統:1000萬像素高清CCD攝像頭,包括樣品光斑圖像定位功能

數據處理系統MCA:控制響應時間小于100毫秒,可同時采集9路反饋信號,實時監測包括管壓,管流,基線,死時間,溫度,計數率,真空度,準直器,濾光片狀態信號

樣品腔:空氣,真空,充氦氣(選配)。內置高功率真空泵 ,全自動軟件控制調節真空系統,雙真空抽速機構,標配真空度自動穩定系統

電壓:220ACV 50/60HZ

環境溫度:-10 °C 35 °C

可增選配置

1樣品自旋系統,最大可放入樣品直徑90mm

2可充氦氣微型樣品腔。

 

儀器配置

>標準配置

>可選配置-樣品前處理系統

Ag初始化標樣

磨樣機

真空泵(內置)

手動壓片機:ESI30T

粉末樣品杯,液體樣品杯

自動壓片機:ESI30S

USB數據線

油品專用樣品杯

電源線

烘干箱

XRF測試薄膜(粉末,液體,油品)

ESI-900型光譜分析專用全自動熔樣機

儀器出廠和標定報告

電子秤

保修卡

標準樣品

高精度交流凈化穩壓電源

150目篩子




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