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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>聚焦離子束顯微鏡(FIB)> Scios 2 DualBeam

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Scios 2 DualBeam

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2024/8/28 14:19:38
  • 訪問次數(shù) 1303
產(chǎn)品標(biāo)簽

Scios 2 DualBeam聚焦離子束

聯(lián)系方式:張怡玲查看聯(lián)系方式

聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購,成為賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析(MSD) 電鏡事業(yè)部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應(yīng)商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結(jié)合先進(jìn)的軟件套件,運(yùn)用廣泛的樣本類型,通過將高分辨率成像與物理、元素、化學(xué)和電學(xué)分析相結(jié)合,使客戶的問題變成有效可用的數(shù)據(jù)。

掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡,用于超高分辨率、高質(zhì)量樣品制備和 3D 表征

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統(tǒng),可為包括磁性和非導(dǎo)電材料在內(nèi)的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能 。通過創(chuàng)新的功能設(shè)計(jì)提高了通量、精度以及易用性,是滿足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)、政府以及工業(yè)研究領(lǐng)域高級研究和分析需求的理想解決方案。

主要特點(diǎn)


快速、便捷的制備

使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質(zhì)量、現(xiàn)場特定的 TEM 和原子探針樣品。

最完整的樣品信息

通過各種集成式色譜柱內(nèi)和透鏡下檢測器獲得清晰、精確和無電荷的對比度。

精確的樣品導(dǎo)航

高度靈活的 110 mm 載物臺和腔室內(nèi) Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機(jī)允許根據(jù)具體應(yīng)用需求進(jìn)行定制。

優(yōu)化您的解決方案

靈活的 DualBeam 配置,包括可選配的最高 500 Pa 腔室壓力低真空模式,可滿足具體的應(yīng)用要求。

使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質(zhì)量、現(xiàn)場特定的 TEM 和原子探針樣品。

超高分辨率成像

使用在泛的樣品范圍(包括磁性和非導(dǎo)電材料)內(nèi)具有性能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜柱。

高質(zhì)量、多模式亞表面和 3D 信息

使用可選配的 AS&V4 軟件,通過精確靶向感興趣區(qū)域來獲得高質(zhì)量、多模式亞表面和 3D 信息。

無偽影成像和構(gòu)成圖案

具有專用模式,如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。

規(guī)格

電子束分辨率
  • 最佳 WD

    • 在 30 keV STEM 下為 0.7 nm

    • 在 1 keV 下為 1.4 nm

    • 在 1 keV(射束減速)下為 1.2 nm

電子束參數(shù)空間
  • 電子束電流范圍:1 pA 至 400 nA

  • 著陸能量范圍:20* eV – 30 keV

  • 加速電壓范圍:200 V – 30 kV

  • 最大水平射野寬度:7 mm WD 時(shí)為 3.0 mm,60 mm WD 時(shí)為 7.0 mm

  • 可通過標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)航剪輯提供超寬視野 (1×)

離子光學(xué)系統(tǒng)
  • 加速電壓:500 V – 30 kV

  • 電子束電流范圍:1.5 pA – 65 nA

  • 15 位置光闌條

  • 漂移抑制模式,為非導(dǎo)電樣品的標(biāo)準(zhǔn)模式

  • 最小離子源壽命:1,000 小時(shí)

  • 離子束分辨率:選擇角方法下 30kV 時(shí)為 3.0 nm

檢測器
  • Trinity 檢測系統(tǒng)(鏡筒內(nèi)和色譜柱內(nèi))

    • T1 分段式下鏡筒內(nèi)檢測器

    • T2 上鏡筒內(nèi)檢測器

    • T3 可伸縮色譜柱內(nèi)檢測器(可選配)

    • 多達(dá) 4 個(gè)同時(shí)檢測的信號

  • Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD)

  • 用于二級離子 (SI) 和二級電子 (SE) 的高性能離子轉(zhuǎn)換和電子檢測器 (ICE)(可選配)

  • 可伸縮、低電壓、高對比度、分段式、固態(tài)反向散射電子檢測器 (DBS)(可選配)

  • 帶 BF/DF/HAADF 分段的可伸縮 STEM 3+ 檢測器(可選配)

  • 查看樣品和腔室的 IR 攝像機(jī)

  • 腔室內(nèi) Nav-Cam 樣品導(dǎo)航攝像機(jī)(可選配)

  • 集成的光束電流測量

載物臺和樣品

靈活的 5 軸電動(dòng)平臺:

  • XY 范圍:110 mm

  • Z 范圍:65 mm

  • 旋轉(zhuǎn):360°(無限)

  • 傾斜范圍:-15° 至 +90°

  • XY 重復(fù)性:3 μm

  • 最大樣品高度:與共心點(diǎn)間距 85 mm

  • 0° 傾斜時(shí)的最大樣品重量:5 kg (包括樣品架)

  • 最大樣品尺寸:旋轉(zhuǎn)時(shí) 110 mm(也可以是更大的樣品,但旋轉(zhuǎn)有限)

  • 計(jì)算中心旋轉(zhuǎn)和傾斜







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