customized 聚焦離子束系統FIB
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 深圳市矢量科學儀器有限公司
- 品牌 ZEISS/蔡司
- 型號 customized
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/9/6 16:21:07
- 訪問次數 773
產品標簽
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| 產地 | 進口 |
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一、產品概述：
聚焦離子束系統（FIB）是一種高精度的材料加工和分析工具，利用聚焦的離子束對樣品進行雕刻、切割和表征。FIB技術廣泛應用于半導體制造、材料科學和納米技術領域，能夠實現對微小結構的精確操作和分析。
二、設備用途/原理：
·設備用途
FIB系統主要用于納米級材料的加工與表征，包括樣品的切割、沉積、刻蝕以及缺陷分析。它在半導體行業中用于制造和修復微電子器件，也可用于材料的微觀結構分析和三維成像，幫助研究人員深入理解材料的特性和行為。
·工作原理
FIB的工作原理是通過加速的離子束（通常是銦離子）轟擊樣品表面，導致材料的原子被擊出或沉積。離子束的聚焦能力使其能夠精確控制加工區域的大小和深度。通過調節離子束的能量和曝光時間，研究人員可以實現高精度的材料去除或添加。同時，FIB系統通常配備有掃描電子顯微鏡（SEM），可以在加工過程中實時觀察樣品，提供高分辨率的圖像和分析數據。此結合使得FIB成為一項強大的材料研究和加工工具。
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