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SPD2200 新型單光子偵測器特性分析設(shè)備
- 公司名稱 光焱科技股份有限公司
- 品牌 Enlitech
- 型號 SPD2200
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/3/27 14:05:13
- 訪問次數(shù) 2644
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價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,汽車 |
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暗計數(shù)(Dark?Count?Rate) | DCR | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
特色
SPD2200具備全光譜性能測試包含:
*全光譜光譜響應(yīng)(SR, Spectral Responsivity)
*全光譜量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)
*全光譜光子探測率(PDP, Photon Detection Probability)
*暗計數(shù)DCR (Dark Count Rate)
*崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)
SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析,包含:
*Jitter
*Afterpulsing probability
*Diffusion tail
*SNR
SPD2200整合了所有*進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng),搭配光焱科技多年光傳感器測試與分析的經(jīng)驗(yàn),提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能。SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時間成本,并降低測試結(jié)果的不確定性。加快產(chǎn)品的開發(fā)周期,提升產(chǎn)品的競爭力。
實(shí)證
*SPAD的暗計數(shù)與偏壓關(guān)系圖
*SPAD暗計數(shù)與崩潰電壓
*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜
*SPAD的Jitter測量
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