元素分析光譜儀XRF8000B

元素分析光譜儀

為了滿足客戶日益更為嚴(yán)苛的測(cè)試需求，特別是對(duì)微量痕量元素測(cè)試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標(biāo)準(zhǔn)，英飛思ESI全新開(kāi)發(fā)了升級(jí)版EDX8000B---全元素XRF檢測(cè)光譜儀。相較于基礎(chǔ)版本的Si-pin硅針檢測(cè)器，EDX8000B裝備了SDD硅漂移檢測(cè)器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量，更好的光譜分辨率，使得檢測(cè)性能提高了2-3倍。其分析能力，靈活性和易操作性使其在多種應(yīng)用中具有廣泛的吸引力，包括合金貴金屬分析，材料研究，RoHS符合性測(cè)試，農(nóng)業(yè)和食品安全以及石油行業(yè)等。

無(wú)論是基本的質(zhì)量控制（QC）還是更為復(fù)雜的監(jiān)測(cè)或探測(cè)分析，EDX8000B光譜儀都是進(jìn)行常規(guī)元素分析的可靠選擇

EDX8000B的優(yōu)勢(shì)：

•1.快速

硅漂移檢測(cè)器 (SDD) 大大縮短了測(cè)量時(shí)間，并提高了靈敏度

2.操作簡(jiǎn)單，軟件友好

減少日常維護(hù)工作（無(wú)液氮運(yùn)行），無(wú)需化學(xué)試劑和其他惰性氣體消耗

無(wú)需真空泵

適用于各種材料定性定量分析

3.三重輻射防護(hù)，使用安全

>>圖1-1，1-2可以清晰的看到，同樣測(cè)試條件下，8000B獲得了更好的Pb鉛測(cè)試光譜（圖中綠色部分為Pb元素光譜線，右圖Pb峰形更高，信噪比更好，分辨率更優(yōu)，最終表現(xiàn)為更優(yōu)異的測(cè)試結(jié)果）

典型應(yīng)用

>金屬合金分析，貴金屬鑒定和測(cè)試

>采礦/地質(zhì)/精煉重金屬分析

>玩具/消費(fèi)品/化妝品中重金屬分析

>RoHS2.0符合性測(cè)試

>潤(rùn)滑油中磨損金屬元素分析

>環(huán)境分析/修復(fù)/土壤中的金屬

>糧食和農(nóng)業(yè)重金屬

>三元催化

>其他材料成分快速定性定量分析

元素測(cè)試專(zhuān)家EDX8000B

>儀器參數(shù)

>標(biāo)準(zhǔn)配置

及時(shí)而專(zhuān)業(yè)的售后服務(wù)  

>對(duì)客戶方操作人員進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)

>現(xiàn)場(chǎng)安裝、調(diào)試、驗(yàn)收服務(wù)

>產(chǎn)品終身維修

>免費(fèi)提供軟件升級(jí)

>提供高效的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶故障信息后，8小時(shí)內(nèi)響應(yīng)，如有需要，48小時(shí)內(nèi)工程師上門(mén)維修和排除故障