LCD材料的超低階雙折射測量

用于LCD的Exicor GEN系列

Hinds Instruments 公司的大尺寸高精應力雙折射分布測量系統用于LED液晶玻璃基板的應力分布測量。產品測量精度*（0.005 nm），且定制平臺掃描，用于LED液晶面板尺寸（Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5  1150 mm x 1350 mm ）光學玻璃應力測量，大型液晶基板應力分布測量，應力測量。如用于LCD（高達1500mm x 1500mm）的光學材料。

光學玻璃應力測量重要特點：

•占地小 - 大限度地減少設備所需的工廠空間

•平臺設計 -設計使可測量面積盡可能大

•強大的自動化 - 質量階段和硬件正常運行時間

•穩定的服務支持 - 各地的支持中心和備件中心

•符合工業標準 - 符合S2 / S8和CE標準

•靈活的軟件 - 優化的軟件。 自定義功能和DLL接口可用

•低維護設計 - 易于維修的組件

•負載輔助 - 傾斜階段選項