產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 醫療衛生,化工,生物產業,電子,印刷包裝 |
1 分析元素范圍:S-U
2 金屬鍍層厚度檢測儀可分析多達3層以上鍍層
3 分析厚度檢出限達0.02μm
4 多次測量重復性可達0.05μm
5 定位精度:0.5mm
5 測量時間:30s-300s
6 計數率:1000-8000cps
7 儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例,分析的范圍是0.02—30um,在這個范圍內,才能檢測。0.5-10um的,偏差是5%,就是說真值是1um,用儀器測試的值是0.95-1.05um。
下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片手動切換:不同樣品材質用不同的準直器
移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點
高分辨率探測器:提高分析的準確性
金屬鍍層厚度檢測儀新一代的高壓電源和X光管:性能穩定可靠,高達50W的功率實現更高的測試效率
1 探測器
1.1. 電制冷半導體探測器分辨率:160±5電子伏特;
1.2. 對樣品特征X射線進行探測;把探測采集的信息,進一步放大。
2 光管
2.1. 使用壽命大于2萬小時;
2.2. 產生X射線激發樣品。
3 高、低壓電源
3.1. 管壓:5KV~50KV,管流為1000uA;
3.2. 為X光提供電源。
4 放大電路:
4.1.對采集來的信號進行數據處理,并將處理結果傳輸給計算機。
5 高清晰攝像頭
5.1試樣觀察;
6 移動平臺(自動)
3.6.1樣品微調移動平臺,保證樣品測試位置準確性。
7 樣品腔
8 準直器
9 標準樣品(歐盟標樣):
11.1 0#標樣、塑膠標樣、銀校正片各一片。
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1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法