產地類別 | 國產 | 價格區間 | 2萬-5萬 |
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應用領域 | 食品,化工,能源,建材,電子 | 溫度范圍 | -20+150 |
半導體檢測高低溫沖擊試驗箱采用整體式組合結構形式,既試驗箱由位于上部的高溫試驗箱,位于下部的低溫試驗箱體、位于后部的制冷機組柜和位于左側后板上的電器控制柜(系統)所組成。此方式箱體占地面積小、結構緊湊、外形美觀,制冷機組置于獨立的機組箱體內,以減少制冷機組運行時的震動、噪聲對試驗箱的影響,同時便于機組的安裝和,電器控制面板置于試驗箱的左側板上以便于運行操作。
半導體檢測高低溫沖擊試驗箱主要技術指標:
技術參數
1. 溫度范圍:-20℃~200℃(A)、-40℃~200℃(B)、-60℃~200℃(C);
2. 樣品吊籃:(WDCJ-100)350×350×380、(WDCJ-300)520 ×520×580;
3. 吊籃承重:(WDCJ-100)15Kg、(WDCJ-300)18Kg;
4. 試驗區:①溫度波動度±0.5℃(溫度恒定后),②溫度偏差≤3℃;
5. 高低溫區:溫度波動度≤±2.0℃;
6. 升溫速率:1.0~3.0℃/min;
7. 降溫速度:0.7~1.0℃/min;
8. 溫度轉換時間:≤15s(樣品從高溫區到低溫區或從低溫區到高溫區);
9. 溫度恢復時間:≤15min
10. 電源電壓:AC380±10%V 50Hz