X射線衍射儀X-Ray分析力提高一體化高分辨率
- 公司名稱 江蘇布魯克電子有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2022/3/30 14:53:07
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價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 探測器及其他設(shè)備 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
X射線衍射儀X-Ray分析力提高一體化高分辨率
高分辨X射線衍射儀其可靠性的增強(qiáng)及性能的改進(jìn)提高了分析能力,提供一體化解決方案來滿足不同需求和應(yīng)用:
• 半導(dǎo)體和單晶晶圓:倒易空間探索、搖擺曲線分析
• 多晶固體和薄膜:織構(gòu)分析、反射測量
• 超薄薄膜、納米材料和非晶層:掠入射物相鑒定、面內(nèi)衍射
• 非常溫條件下的測量:隨溫度和時間變化的峰高
推動薄膜領(lǐng)域的材料研究材料研究的進(jìn)步給我們的生活方式帶來了巨大變化。例如,材料技術(shù)推動了通信技術(shù)的發(fā)展,而這些技術(shù)如今早已成為我們?nèi)粘I钪忻懿豢煞值囊徊糠帧1∧そY(jié)構(gòu)是電子、光學(xué)、機(jī)械和能源應(yīng)用的許多高級功能設(shè)備的核心所在。多層材料現(xiàn)在,生長技術(shù)允許多層結(jié)構(gòu)沉積,其中各層的厚度可以從微米級別低至單分子層級別。高級薄膜設(shè)備所涉及的典型材料包括半導(dǎo)體、金屬合金、介電材料和化合物。在各種薄膜結(jié)構(gòu)中,通常需要進(jìn)行多次測量來分析各種屬性,比如層厚、晶相和合金成分、應(yīng)力、結(jié)晶度、密度和界面形態(tài)等。研究和監(jiān)測結(jié)構(gòu)特性為了設(shè)計、理解和改進(jìn)新器件,在多步制程的每個階段都必須測量關(guān)鍵的結(jié)構(gòu)特性。在薄膜器件的研究、開發(fā)和生產(chǎn)中,對薄膜性能的監(jiān)測是不可少的一步。
X射線衍射儀X-Ray分析力提高一體化高分辨率