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LQ-100X-PL 光致發(fā)光與發(fā)光量子產(chǎn)率測試系統(tǒng)
- 公司名稱 光焱科技股份有限公司
- 品牌 Enlitech
- 型號 LQ-100X-PL
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/4/3 13:52:00
- 訪問次數(shù) 7511
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測量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
---|---|---|---|
價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 |
尺寸大小 | 502.4mm(L)?x?322.5mm(W)?x?352mm(H) | 波長 | 1000?nm至1700?nm |
光焱科技LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統(tǒng)介紹
什么是 PL?
PL (Photoluminescence, 光致發(fā)光):當材料吸收光子后,電子躍遷至激發(fā)態(tài),再回到低能態(tài),將能量以光的形式發(fā)出。
什么是 PLQY?
PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發(fā)光量子產(chǎn)率) 計算方式為發(fā)出的光子數(shù)除以吸收的光子數(shù)。PLQY 是評價發(fā)光材料的重要指標,除了可以用來對材料進行初級分類的基本參數(shù),且對于發(fā)光系統(tǒng)與其載子動力學(xué)的重要分析方法。
LQ-100X-PL 如何測試 PLQY?
量測背景訊號
量測樣品
計算樣品的光致發(fā)光量子產(chǎn)率
PL 與 PLQY 是研究材料表征的重要工具,目前材料測試面臨挑戰(zhàn)有以下三點:
(1) 無法在手套箱內(nèi)測試。
(2) 無法進行原位時間光譜解析。
(3) 紅外波段擴展不易。
LQ-100X-PL 針對上述的3大痛點,做出了應(yīng)對。
特色
LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統(tǒng) 擁有以下幾點優(yōu)勢:
*以緊湊的設(shè)計,尺寸大小 502.4mm(L) x 322.5mm(W) x 352mm(H),搭配 4 吋外徑 PTFE 材質(zhì)的積分球,并且整合 NIST 追溯的校準,讓手套箱整合 PL 與 PLQY 成為可能。
*利用*進的儀表控制程序,可以進行原位時間 PL 光譜解析,并且可產(chǎn)生 2D 與 3D 圖表,說明用戶可以更快地表征材料在原位時間的變化。
*系統(tǒng)光學(xué)設(shè)計可容易的做紅外擴展,波長由1000 nm 至 1700 nm。粉末、溶液、薄膜樣品都可兼容測試。
規(guī)格
標準配置:
*全向式收光系統(tǒng) (100 mm 積分球)
*增強型多信道光譜儀測試系統(tǒng)
*光致發(fā)光量測模塊 (365 nm LED 激發(fā)光源)
*量測軟件
*工控機與屏幕
選配規(guī)格:
*EL光譜整合測試套件 (源表/PMT模塊/背探式樣品盒/多通道手動切換盒/EL量測軟件升級)
*紅外光譜擴充模塊 (900 – 1700 nm)
*手套箱整合套件
*激發(fā)光源
*LED光源 (波長可選:365 nm / 405 nm / 455 nm / 470 nm / 505 nm / 530 nm / 590 nm / 660 nm / 810 nm / 850 nm / 940 nm)
*Laser光源 (波長可選:380 nm / 405 nm / 520 nm / 635 nm / 785 nm / 808 nm / 832 nm / 880 nm / 940 nm)
應(yīng)用范圍
LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統(tǒng) 可用于:
*熒光粉 (Phosphor)
*發(fā)光二極管熒光材料 (LED fluorescent material)
*有機發(fā)光二極管熒光材料 (OLED fluorescent material)
*鈣鈦礦 (Perovskite)
*雷射染料 (Laser dies)
*鈣鈦礦量子點粉末與單晶 (Perovskite quantum dot powder and single crystal)
*PbS 量子點 (PbS quantum dot)
實證
*PL 光譜顯示
LQ-100X-PL 系統(tǒng)可以針對多種材料進行 PL 與 PLQY 測試。步驟如下:
1.測量背景訊號,如圖中藍色曲線,并可計算入射激發(fā)光子總數(shù)。
2.測量樣品光譜,如圖中綠色曲線。計算得到發(fā)射光子總數(shù)。
3.計算 1. 2. 步驟中,樣品吸收光子率與吸收光子總數(shù)。
4.由 1. 3. 相除可得到 PLQY。
*發(fā)射光譜分析
LQ-100X-PL 軟件可以針對 PL 發(fā)射光譜進行多種分析,以定量的表征材料的特性。包含:
1.發(fā)光 CIE 色坐標
2.CIE-xyz
3.CIE-XYZ
4.CIE-uv
5.色溫
6.色彩純度
*原位時間解析 PL 光譜變化
LQ-100X-PL 除了 PLQY 測量外,還可進行 PL 光譜隨時間變化連續(xù)測試,并繪制成 2D 或 3D 顯示圖-稱為原位時間解析 PL 光譜圖。如圖所示,鈣鈦礦的 PL 光譜隨著時間增加的變化,可以波長半寬 (FWHM) 隨之增加,并且產(chǎn)生中心波長 (Peak Lambda) 紅移的現(xiàn)象。分析原位時間解析 PL 光譜圖,對于新型材料如鈣鈦礦的穩(wěn)定性或亞穩(wěn)態(tài)特性,具有直接的的證據(jù)說服力。是材料表征的理想工具。