“粘度計”“四球試驗機”“磨損試驗機”“測定儀”“濁點測試儀”“高溫氧化測定儀”“高溫高剪切粘度計”“潤滑油泡沫特性測試儀””單螺桿擠出機“”雙螺桿擠出機“ “DMA大力值機” “PH計” “水分測定儀”
產地類別 | 進口 | 二次電子圖象分辨率 | 0.34nmnm |
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放大倍數 | 2,200~8,000,000xx | 加速電壓 | 30kVkV |
價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 冷場發射 |
應用領域 | 醫療衛生,食品,化工,石油,電子 |
產品介紹
立2011年新推出了SU9000超高分辨冷場發射掃描電鏡,達到掃描電鏡高二次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改進的真空系統和電子光學系統,不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的Flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。
特點:
1. 新型電子光學系統設計達到掃描電鏡高分辨率:二次電子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。
2. Hitachi設計的E×B系統,可以自由控制SE和BSE檢測信號。
3. 全新真空技術設計使得SU9000冷場發射電子束具有超穩定和高亮度特點。
4. 全新物鏡設計顯著提高低加速電壓條件下的圖像分辨率。
5. STEM的明場像能夠調整信號檢測角度,明場像、暗場像和二次電子圖像可以同時顯示并拍攝照片。
6. 與FIB兼容的側插樣品桿提高更換樣品效率和高倍率圖像觀察效率。
項目 | 技術指標 | |||
二次電子分辨率 | 0.4nm (加速電壓30kV,放大倍率80萬倍) | |||
1.2nm (加速電壓1kV,放大倍率25萬倍) | ||||
STEM分辨率 | 0.34nm(加速電壓30kV,晶格象) | |||
觀測倍率 | 底片輸出 | 顯示器輸出 | ||
LM模式 | 80~10,000x | 220~25,000x | ||
HM模式 | 800~3,000,000x | 2,200~8,000,000x | ||
樣品臺 | 側插式樣品桿 | |||
樣品移動行程 | X | ±4.0mm | ||
Y | ±2.0mm | |||
Z | ±0.3mm | |||
T | ±40度 | |||
標準樣品臺 | 平面樣品臺:5.0mm×9.5mm×3.5mmH | |||
截面樣品臺:2.0mm×6.0mm×5.0mmH | ||||
專用樣品臺 | 截面樣品臺:2.0mm×12.0mm×6.0mmH | |||
雙傾截面樣品臺:0.8mm×8.5mm×3.5mmH | ||||
信號檢測器 | 二次電子探測器 | |||
TOP 探測器(選配) | ||||
BF/DF 雙STEM探測器(選配) |