產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
---|---|---|---|
應用領域 | 能源,電子 | 自動化度 | 全自動 |
鍍金真空吸附卡盤 | 對應可選8"產品 |
奕葉探針臺BD系列
一、顯微鏡操控規格:
l 在探針臺右側有大搖桿,提起90度后,可以使顯微鏡快速傾仰抬起,方便在測試時更換物鏡鏡頭。
l 顯微鏡后側有X/Y軸調節小搖輪,可調節顯微鏡在x-y方向的移動,移動范圍2"X2",精度1μm。
l 顯微鏡Z軸帶有調焦粗旋鈕和細旋鈕,粗旋鈕方便快速調焦,細旋鈕方便調焦,使顯微鏡在Z軸方向行程50.8mm,移動精度1μm。
二、臺面規格:
l 探針臺臺面平整度:5μm
l 探針臺左側有搖杠可以控制臺面快速上下升降6mm。在探針臺加裝探針卡點測wafer時方便對die的重選擇
l 探針臺右上方有轉輪搖桿,搖動時可使臺面線性上下升降,升降范圍25mm,精度1μm。在探針臺加裝探針卡點測wafer時方便對die的復位
三、卡盤(載物臺,即圖中的chuck)規格:
l 6" 卡盤,卡盤平整度:5μm,采用真空吸附方式吸附,帶真空吸附孔,中心孔徑250μm-1mm(可根據客戶需求定制孔徑大小),小可以吸住尺寸為0.3mmX0.3mm,能夠吸住尺寸為6"X6"
l 卡盤可360度旋轉,旋轉角度可微調,微調精度為0.1度,帶角度鎖定旋
l 卡盤X,Y軸調節旋鈕可以控制卡盤做X-Y方向的移動,移動范圍為6"X6",移動精度為1μm,為方便點測的穩定性,帶有鎖住功能。如果點測6"wafer的時候,可以6"wafer的每一點都能夠點測到
四、總體規格:
l 重量:50kg(含顯微鏡)
l 尺寸:590mm寬*500mm長*700mm高(含顯微鏡)
l 優化的人體工學設計,便于工程師長時間舒適的操作
五、性能
l 鍍金真空吸附卡盤: 對應可選4" ,6",8",12"產品
l 大旋鈕移動卡盤臺,X-Y方向行程:6"-6"
l 卡盤快速拉出裝置便于放置/拿去樣品
l 線性無回差調節
l 臺面快速升/降行程:6mm,精調升/降行程:25mm
l 樣品尺寸: 5x5mm ~ 4" 6", 8", 12"
l 卡盤平整度: 10um
l 卡盤旋轉角度:0~360°
l Chuck Theta: ±15
l 大旋鈕滑臺X-Y方向精度: 1um
l 臺面上/下升降搖桿/旋鈕
l 顯微鏡傾仰裝置
六、附件
l 顯微鏡傾仰裝置
l 射頻測試探頭/電纜
l 有源探頭
l 低電流/電容測試
l 高壓測試
l 激光修復
l CCD/數字相機,USB接口
l 探針卡/封裝/PCB板夾具
l 加熱裝置
l 防震桌
l 屏蔽箱
l 顯微鏡暗場/Normarski 檢測