貝克曼庫爾特新一代 LS 13 320 XR，是一款全自動、高分辨率、高準確性、高重現性以及操作非常簡單的干濕兩用粒度分析儀，它將激光衍射粒度分析儀提升到了一個更高的水平。

• 升級版 PIDS 技術（發明號：4953978，5104221）真正實現10nm粒徑測量，優化的132枚檢測器保證了儀器分辨率

• 干法樣品臺采用龍卷風分散技術（發明:US00645414B-1）。整個系統不僅*粒度表征的需求，可以測量粒徑范圍更寬的顆粒（10nm-3500um），而且高分辨率+特色樣品臺，不論樣品是單峰、雙峰還是多峰，不論納米、微米還是納微米，均可以更快、更可靠地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異，實現高分辨率的檢測。

132 枚檢測器，超高分辨率，準確測量細微差異

X-D陣列檢測器 - 確保微米顆粒高分辨率的準確測量

• 特殊設計X型對數排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，獲得真實準確的粒度分布

• 132枚檢測器能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，快速、準確的提供真實粒度分布

• 優化的檢測器信噪比，大大提高了檢測到散射光強譜圖細微變化的能力

PIDS技術：偏振光強度差散射 - 真正實現納米顆粒測量

• 傳統方法測量亞微米顆粒依靠背散射光，其散射光強譜圖在形狀和強度上都非常相似，區分比較困難，因此由于分辨率低而造成不準確的粒度測量。

• 亞微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射譜圖，而這些差異便是亞微米顆粒識別的重要信息。

• PIDS技術采用了3種不同波長的光順次照射樣品，首先為垂直偏振，然后為水平偏振，通過分析每個波長的水平和垂直輻射光之間的差異，便可獲得亞微米樣品準確的粒度分布信息

• 升級版PIDS技術從光源到濾波器再到檢測器都進行了全面的升級，使得測量亞微米顆粒的動態范圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。

ADAPT多峰樣品自動檢測，更放心

• 憑借業界出眾的技術，無需預估樣品峰型（比如多峰、窄分布），無需選擇分析模型，輕松準確分析多峰樣品，讓您對測試結果更放心

• 準確性誤差優于±0.5%

• 重復性誤差優于0.5%

數據完整性及合規性

LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗證程序，可滿足安裝驗證（IQ）和運行驗證（OQ）所需。

簡單、直觀的操作軟件

• 從開始測量到獲得結果僅需 2 次點擊

• 包含集成的光學常數數據庫

• 隨時向您通報有用的用戶診斷報告

• 精簡的工作流不僅易于使用，更節省時間

應用

廣泛應用于土壤、沉積物、面粉、淀粉、奶粉、食品添加劑、飲料、黏合劑、合金、金屬粉末、硅微粉、3D打印、涂料、顏料、藥物、礦物、紙、化妝品、煤粉、鋰離子電池材料、建材紡織、甚至生物顆粒等應用領域

擅長樣品類型：

• 寬分布樣品

• 極限顆粒（納米、>1000微米）

• 多峰樣品

• 數量微小變化