Profilm 3D 3D 表面形狀測量系統
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 秋山科技(東莞)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 Profilm 3D
- 產地 日本
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/9/10 17:26:46
- 訪問次數 1363
產品標簽
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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
---|---|---|---|
應用領域 | 食品 |
日本filmetrics 3D 表面形狀測量系統Profilm 3D
它是一個使用白光干涉技術的系統,可以無接觸地測量包括臺階和粗糙度在內的三維形狀。
Profilm 3D 適用于測量小樣品,涵蓋了測量 3D 形狀所需的所有功能,并且比傳統產品更緊湊、更便宜。
各種測量模式,包括適合高精度測量微米級臺階和形狀的垂直掃描干涉測量法 (WLI) 和適合測量納米級形狀和粗糙度的相移干涉測量法 (PSI)。包括標準步驟樣品在內的一切都是標準設備,包括用于放大物鏡的左輪、自動載物臺以及便于操作、分析和管理測量數據的軟件。
主要特點
- 低價!
在配備所有必要功能的同時實現低價 - 納米級高分辨率
采用相移干涉法實現高分辨率 - 全標準設備
XY自動載物臺,手動左輪,自動光強調節,自動對焦功能 - 緊湊的外殼
主體的占地面積為 30 x 30 cm 的緊湊設計。 - 配備 WLI 和 PSI 兩種測量模式 一臺設備即可
測量臺階測量和粗糙度測量 - 操作
簡單 基本操作只是簡單的鼠標操作 - 符合 ISO 標準的粗糙度測量符合
國際標準 ISO25178 - 可擴展性
多種物鏡選擇,數據拼接功能
日本filmetrics 3D 表面形狀測量系統Profilm 3D
主要應用
半導體 | 晶圓凸塊、CMP焊盤等 |
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醫療領域 | 注射針、人工關節、支架等 |
安裝板 | 銅線、凸點、透鏡等 |
測量規格?
垂直掃描白光干涉測量法 (WLI) | 相移干涉測量 (PSI) | |
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測量范圍 | 50 納米 – 10 毫米 | 0 – 3 微米 |
準確性 | 0.7% | —— |
再現性 | 0.1% | —— |
反射范圍 | 0.05% – 100% | 0.05% – 100% |
設備規格
XY自動載物臺 | 100mm x 100mm |
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Z軸驅動范圍 | 100mm |
壓電驅動范圍 | 500微米 |
掃描速度 | 12微米/秒 |
相機 | 2592 x 1944(500 萬像素) |
體重 | 15公斤 |
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