產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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儀器種類 | 氣溶膠測試系統 | 應用領域 | 環保 |
圖1:U-SMPS 2050X / 2100X / 2200X通用掃描遷移率粒度儀
Palas® 通用掃描遷移率粒徑譜儀(U-SMPS)可提供兩種版本。長分類柱(2050X / 2100X / 2200X 型號)可以確定 8 至 1200 nm 的粒徑分布。該系列已經集成了 X 射線源作為中和器(參見圖 1),代替放射性中和器(例如使用 Kr-85),優點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。Palas®U-SMPS 系統包括一個分類器 [ 在 ISO15900 中定義為電遷移率分級器(DEMC),也稱為微分遷移率分析儀(DMA)],可根據氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應的氣溶膠顆粒并傳送到出口。然后通過冷凝顆粒計數器(例如 UF-CPC)對這些顆粒進行計數。三種可用的 UF-CPC 型號可在各種濃度范圍內實現最佳的單顆粒計數。 Palas 使用了由 Wiedensohler 教授(IfTLeipzig,德國)開發的演算算法,將測量數據轉化為 U-SMPS 的顆粒分布。U-SMPS 使用圖形化用戶界面并在觸摸屏上進行操作。一次粒子分布掃描可以在短短 30 秒之內執行,并且每十進制多達 64 個尺寸通道。在掃描期間,DEMC 分類器中的電壓連續變化,從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上設置線性或對數顯示測量值。隨附的評估軟件可提供各種數據評估(各種統計和平均值),以及導出功能。U-SMPS 通常作為獨立設備運行,但也可以連接到計算機或使用各種接口(USB, LAN,WLAN,RS-232 / 485)連接網絡。 Palas®U-SMPS 支持 DMA,CPC 和其他制造商的氣溶膠靜電計。 U-SMPS 對顆粒物準確的尺寸確定和可靠性能極其重要,尤其是對于校準來說。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試,并且必須內部組裝。 圖 2 給出了U-SMPS 的工作原理:氣溶膠在進入分類器(DEMC)之前先經過調節。 選配的干燥器(例如硅膠,Na?on)可以去除顆粒中的水分。 雙極中和劑(XRC 049)用于確保氣溶膠電荷分布符合預定。 在 DEMC 的入口處需要一個撞擊器以去除大于分類器尺寸范圍的顆粒。
圖 2:掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)的工作原理。
氣溶膠通過 DEMC 柱的進樣口導入,沿著外部電極與鞘氣合并。合并過程要避免湍流,確保層流。電極的表面必須極其光滑和精準。該鞘氣是干燥的、無顆粒的載氣(通常為空氣),比氣溶膠的體積大,且在閉環中連續循環。鞘氣與樣品空氣的體積比決定了傳遞效率,從而決定尺寸分類器的分辨率。在內部和外部電極之間施加電壓產生徑向對稱電場。內電極帶正電,末端有一個小縫隙。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力,帶負電顆粒轉移到正電極。根據它們的電遷移率,一些顆粒會通過頂部小縫隙離開 DEMC。在操作中,電壓產生的電場持續變化,使得不同遷移率的顆粒離開 DEMC,并由納米粒子計數器(例如冷凝粒子計數器)連續測量計數(例如 Palas®UF-CPC)。方便實用的軟件提供多數據信息(如電壓,粒子數等)并取得粒度分布數據,如圖 3 所示。
圖 3:Palas®DNP3000 顆粒發生器產生的氣溶膠的粒徑分布。
基于客戶反饋優化過的用戶界面和軟件可以進行直觀的操作、實時控制并顯示測量數據和參數。 此外,通過集成的數據記錄器、完善的導出功能和網絡連接,該軟件可以實現數據管理功能。 測量數據有多種形式顯示和評估。 可用的系統:下面的文檔介紹了 DEMC 和 Palas® 提供的計數器的各種組合。其他制造商提供的大多數 DMA,CPC和氣溶膠靜電計都可以用作 U-SMPS 系統的組件。
通用掃描遷移率粒度儀優點:
粒徑分布范圍為 8nm 至 1.2μm
連續快速掃描測量原理
高分辨率,最多 128 個尺寸通道 / 十進制適用于最高 108 顆粒 / cm3 的濃度
跟其他制造商的 DMA 和納米顆粒計數器通用圖形顯示測量結果
7 英寸觸摸屏和 GUI 直觀操作內置數據記錄儀
支持多種接口和遠程訪問
低維護
功能可靠
減少您的運營費用
應用領域:
過濾測試
氣溶膠研究
環境與氣候研究吸入實驗
室內和工作場所測量
生產廠家:德國Palas
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