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ES620 TLP傳輸線脈沖測試系統

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      湖南格雷柏電子科技有限公司成立于2016年,主要代理銷售國內外產品,致力于表面科學、電子電力、環境力學、化學分析、可靠性分析等領域檢測儀器儀表、設備和配件綜合服務供應商。

       EMC電磁兼容和可靠性分析儀器、儀表、設備綜合服務供應商,

       芯片級、板級、系統級ESD靜電抗擾和EMI電磁干擾測試方案定制商,

      行業涉及手機通信消費電子、汽車電子、顯示行業、PCB板模組行業、芯片半導體行業,高校科研院所實驗室,可為客戶提供定制解決方案。

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For our existing clients, thank you for your support and business, we pledge to continue to exceed your expectations.

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ES622系列TLP脈沖IV曲線系統 ,HBM/MM/Latch-up測試機, ESD/CDM/Latch-UP抗靜電能力測試系統, ES612A 靜電測試儀(HBM、HMM、MM), ESD靜電和閂鎖測試系統, CDM充電器件模型測試儀, CDM測試機, 半導體器件靜電測試儀, 晶圓級ESD測試儀,EMI近場測試掃描儀系統

應用領域 電子,航天,汽車,電氣

系統的傳輸線脈沖(TLP)測試和分析功能符合ANSI/ESD STM5.5.1-2014測試標準。ES620系統能夠向器件注入高質量矩形波脈沖,同時記錄流經器件的電流和器件兩端電壓。測試結果能夠提供脈沖式IV曲線,使用戶能夠表征器件在納秒級的瞬態響應。系統還具有器件失效自動化檢測方法,例如漏電流測試,靜態IV曲線,熔斷和火花放電。

超快TLP (vf-TLP) 測試和分析功能符合ANSI/ESD SP5.5.2-2007測試標準。vf-TLP測試用于模擬CDM速度的靜電放電,捕捉高速(大約100ps上升沿)狀態下器件的電流和電壓。用戶可以通過這種方法測試器件的響應速度和峰值電壓。

人體金屬模型(HMM) 測試和分析功能符合ANSI/ESD SP5. 6-2009測試方法,該方法可替代IEC61000-4-2中系統級ESD測試方法,用于測試IC。當測試低阻抗器件或者晶圓時,系統的該測試功能可以提供符合IEC61000-4-2標準的理想波形,并且避免許多靜電放電槍測試時可能出現的問題,例如可重復性差,放電位置不對,由未屏蔽繼電器產生的EMI互擾,需要設置大接地平板和耦合板。

系統有完整的軟件控制,可定制上升沿時間和脈沖寬度,與IVI儀器有良好的兼容性,體積小。

TLP傳輸線脈沖測試系統特點:

配置靈活的TLP IV曲線脈沖測試分析系統

超便攜設計

超快測試速度,程序并行處理

目前測試版本有25A,50A和100A模塊

高質量TLP脈沖

可擴展的測試模塊包括vf-TLP,HMM,HBM和低壓浪涌

自動化故障檢測方法包括:DC抽查 (電壓或電流),靜態IV,熔融,擊穿,偏置源波動以及客戶自定義

軟件控制的脈沖注入:單次,連續,IV-曲線表征

上升沿選項:60ps至 50ns(取決于模塊)

脈沖寬度選項:1ns至3200ns(取決于模塊)

TLP傳輸線脈沖測試系統應用:

晶圓級ESD測試

PCB/封裝級ESD測試

系統/電路ESD測試

安全工作區 (SOA) 測試

充電恢復時間測試

差分ESD脈沖注入

觸摸屏ITO微帶線熔斷測試

觸摸屏ITO微帶線火花放電測試

TLP注入電流脈沖符合并超過ANSI/ESD STM 5.5.1-2008標準

vf-TLP注入電流脈沖符合并超過ANSI/ESD SP5.5.2-2007標準

對于低阻抗器件,HMM的注入電流脈沖與IEC61000-4-2波形相符

規格:

ES620基于傳輸線脈沖的IV-曲線測試系統

參量

ES620-25

ES620-50

ES620-100

單位

備注

開路輸出電壓

±0.5~1250

±0.5~2500

±0.5~5000

V


50?負載時,輸出電壓

±0.25–625

±0.5~1250

±0.5~2500

V


50?負載時,小電壓步長低電壓–40V

0.01

0.01

0.02

V

帶46dB反射抑制

50?負載時,小電壓步長40V至 高電壓

0.1

0.1

0.2

V

帶6dB反射抑制

輸出電壓誤差

<5%

%

自校準后

短路輸出電流

±0.01~25

±0.02~50

±0.04~100

A


50?負載時,輸出電流

±0.005~12.5

±0.01~25

±0.02~50

A


50?負載時,峰值功率

≥7.813

≥31.25

≥125

kW


自帶TLP上升沿時間

≤0.2

≤0.2

≤0.3

ns

ES620-25可達60ps

其他上升沿時間選項

0.06~50

ns

與模型有關,請看表2

自帶TLP脈沖寬度

100±1

ns

自定義

其他脈寬選項

1~3200

5~1000

5~1000

ns

與模型有關,請看表3

測試間隔時間

一般為0.2~2

s

與示波器,SMU和規定有關

尺寸

347X300X145

mm


重量

5

6

8

kg


I&V直接測量

I&V直接測量探頭A6213-T1 (CT-2電流探頭和1KT型電壓探頭)


可配用示波器

Tektronix,Agilent,LeCroy,Rigol的大部分型號

其他型號可根據客戶需求進行匹配支持

可配用SMU

Keithley 24xx/26xx系列SMU

其他型號可根據客戶需求進行匹配支持

ES620-HMM1擴展的人體金屬模型模塊(DUT為短路,100?HMM,基于ANSI/ESD SP5.6-2009標準)

參數

ES620-25

ES620-50

ES620-100

單位

備注

HMM峰值電流

22.5

45

90

A


每千伏3.75A≤±10%

IEC 61000-4-2 (R=330?,C=150pF)

30ns時的HMM 電流

12

24

48

A

≤±10% (優于IEC的±30% )

60ns時的HMM 電流

6

12

24

A

≤±10% (優于IEC的±30% )

ES620-HBM1擴展的人體模型模塊(ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2014 R=1.5k?,C=100pF)

TLP傳輸線脈沖測試系統

TLP傳輸線脈沖測試系統

TLP傳輸線脈沖測試系統

TLP傳輸線脈沖測試系統TLP傳輸線脈沖測試系統








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