日本阻抗分析儀IM7580A性能特點
測量頻率1MHz~300MHz
測量時間:0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀IM7580A的測試治具。
阻抗分析儀IM7580s:等效電路分析功能
能夠以測量結果為基礎推測5種等效電路模式的常數。 而且,可以通過模擬功能,使用推測結果或者任意的常數來顯示頻率特性的理想值。 此外,使用比較器功能,還能夠確定測量結果是否在判定區域內。
阻抗分析儀IM7580系列:使用SMD治具IM9201進行LCR測量
IM7580系列5種機型的測量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。
和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用,能夠簡單準確的測量樣品。
阻抗分析儀IM7580系列:區域判定功能
分析模式的比較器功能中,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。 “區域判定功能”是設置上限值和下限值的范圍,并以IN/NG來顯示判定結果。
阻抗分析儀IM7580系列:峰值判定功能
分析模式的比較器功能中,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值來設置范圍,并以IN/NG來顯示測量的峰值是否在判定區域內。
阻抗分析儀IM7580系列:SPOT判定功能
分析模式的比較器功能中,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
“SPOT判定功能”是選擇任意的掃描點和參數,多進行16點的判定。
阻抗分析儀IM7580系列:比較器功能
使用比較器功能,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
適用于判定樣品是否合格的功能。
阻抗分析儀IM7580系列:接觸檢查功能
使用接觸檢查功能,能夠檢查樣品和測量端口的接觸狀態,并確認接觸不良情況和連接狀態。
阻抗分析儀IM7580系列:測試頭的連接方法
測試頭的連接線連接阻抗分析儀。
稍微彎曲扭力扳手的手柄后擰緊螺母(0.56 N?m)。
請注意不要擰過頭。
精度計算軟件
僅需輸入數值即可輕松計算精度。
日本日置阻抗分析儀HIOKI IM7580A基本參數
測量模式 LCR(LCR測量),分析(掃頻測量),連續測量
測量參數 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保證范圍 100 mΩ~5 kΩ
顯示范圍 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度 Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
測量頻率 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進)
測量信號電平 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
電壓 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
電流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms
輸出阻抗 50 Ω (10 MHz時)
顯示 彩色TFT8.4英寸、觸屏
測量時間 0.5ms(FAST、模擬測量時間、代表值)
功能 接觸檢查、比較器、BIN判定(分類功能)、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償
接口 EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN
RS-232C (選件), GP-IB (選件)
電源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
體積和重量 主機: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
測試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
附件 電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1