進(jìn)口光束分析儀，檢測(cè)光束，光斑質(zhì)量必須的儀器

主要特點(diǎn)：

通用性強(qiáng)，可以測(cè)光斑輪廓、功率、位置

可以測(cè)量激光的光束質(zhì)量，M2值

高分辨率（230萬像素），12bit動(dòng)態(tài)范圍

帶內(nèi)置濾光片輪，方便測(cè)量不同功率

使用方便，自帶軟件，基于USB3.0

進(jìn)口光束分析儀的應(yīng)用：

光束質(zhì)量分析儀是光學(xué)儀器的一種，日常生活幾乎接觸不到，主要應(yīng)用在現(xiàn)代科學(xué)和工業(yè)的激光應(yīng)用中。在醫(yī)學(xué)，激光打印，激光打標(biāo)，激光焊接切割等等激光作業(yè)時(shí)，通常需要對(duì)激光光斑進(jìn)行整形或者聚焦，但由于作業(yè)時(shí)，激光可能會(huì)產(chǎn)生失真，光學(xué)畸變，升溫，不穩(wěn)定和非線性效應(yīng)等因素時(shí)，實(shí)際得到的光斑往往會(huì)偏離設(shè)計(jì)目標(biāo)，所以此時(shí)我們需要一個(gè)光束分析儀來調(diào)整和修改激光器的激光輸出。光束分析儀可以測(cè)試出當(dāng)前光束質(zhì)量（m2）的技術(shù)指標(biāo)并且調(diào)整，光束質(zhì)量分析儀的應(yīng)用就在于此

光束質(zhì)量分析儀的介紹：

以DumaDuma Optronics 公司的光束分析儀為例

光束分析儀有兩種，ccd式（BeamOn系列）和刀口式（Beam Analyzer系列）

CCD式光束質(zhì)量分析儀：

高分辨率：

CCD式光束質(zhì)量分析儀的一大特色就是其高達(dá)1.4m像素的分辨率，其帶有電動(dòng)光學(xué)濾波輪組，具有12位的動(dòng)態(tài)范圍，能對(duì)連續(xù)光和脈沖光進(jìn)行的測(cè)量。操作簡(jiǎn)單，usb接口，通過軟件對(duì)激光進(jìn)行自動(dòng)調(diào)節(jié)。

技術(shù)：

Duma的CCD光束質(zhì)量分析儀是一種既可以測(cè)量連續(xù)光也可以測(cè)量脈沖光的光束質(zhì)量診斷設(shè)備。具備光束寬度，光束形狀，位置，功率，強(qiáng)度分布等多種參數(shù)測(cè)試能力。使用USB2.0數(shù)據(jù)且可以用軟件控制。通多控制衰減片的倍數(shù)多次測(cè)量，可以突破動(dòng)態(tài)范圍的限制來測(cè)量大的動(dòng)態(tài)范圍的激光束。這種技術(shù)可以測(cè)量相對(duì)于點(diǎn)1%的功率動(dòng)態(tài)范圍分布，這種技術(shù)可測(cè)量功率密度強(qiáng)點(diǎn)到弱點(diǎn)。

刀口式光束質(zhì)量分析儀：

圍繞技術(shù)所產(chǎn)生的功能，可以在不同的交叉面和交叉角進(jìn)行斷層重建從而測(cè)量光束質(zhì)量，提供了高分辨率光束直徑和剖面測(cè)量，與光束功率分布的二維和三維視圖。

*功能

無像差掃描式光學(xué)衰減器可測(cè)量高功率大動(dòng)態(tài)范圍光束

工業(yè)解決方案—尺寸小

12位A/D轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)高分辨率采樣

數(shù)據(jù)通過RS232或者TCP/IP與轉(zhuǎn)換器連接

*功能

無像差掃描式光學(xué)衰減器可測(cè)量高功率大動(dòng)態(tài)范圍光束

工業(yè)解決方案—尺寸小

12位A/D轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)高分辨率采樣

數(shù)據(jù)通過RS232或者TCP/IP與轉(zhuǎn)換器連接。