10℃/min高低溫快速循環箱用途

?1.設備是用于考察印刷電路板PCB、整機、單元、器件等產品從研制階段轉向生產階段的過程中由熱機械性能引起的疲勞損壞和性能降低。一般溫度循環應力篩選的溫變速率依次施加為5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，分為線性與非線性溫變。當構成產品各部件的材料熱匹配較差，或部件內應力較大時，溫度循環應力篩選可引發產品由機械結構缺陷劣化產生的失效。溫度循環應力篩本身是一種制程階段的過程，可有效剔除產品的早期失效，它與環境試驗要區分開來理解，所以溫度循環試驗是環境應力篩選的有力手段。

2.溫度循環應力篩選試驗箱適用于航空航天工業、國防研發、高校院所科研、芯片制備、IC封裝、半導體器件、新能源動力電池、光電通訊器件、智能手機研發、5G通訊設備等單位及行業。是品管工程和產品研發、分析的高效可靠性解決方案。

10℃/min高低溫快速循環箱特點

1.溫度快速升降溫試驗箱經提取歐美及日本設計與制造工藝理念，采用前沿的制冷控制模式，可使輸出功率從0%～100%自動調節壓縮機制冷量，較傳統平衡調溫調濕模式耗能減少30%。制冷系統為*壓縮機低噪音模塊化二元復疊熱交換水冷式機組設計，可使溫度循環按線性與非線性快速溫變，同時溫變速率可實現5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min等可靠性條件。

2.制冷及電控、溫控系統關鍵配件均采用，每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保設備運行期間高可靠性，使設備的綜合性能得到*釋放提升。

3.USB接口、以太網通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足用戶多種需要，實現運行數據交換功能，能與用戶主機連接進行遠程操控，實時了解設備運行狀況，可通過任何移動終端監控。

4.可實現溫度定值控制和程序控制（選購加裝濕度模塊），具備高低溫快速溫變（溫度循環應力篩選）、高溫高濕試驗、冷熱循環試驗、濕熱交變試驗、恒溫恒濕試驗、結露試驗等多種可靠性測試。滿足不同用戶對多種產品在惡劣復雜氣候環境條件下的試驗。

高低溫快速循環箱技術參數

1.工作室容積：150L，225L，408L，500L，800L，1000L。（可定制非標機型）

2.溫度范圍：-70℃～+150℃。

3.濕度范圍：20%～98%RH；10%～98%RH；5%～98%RH。（選購模塊）

4.溫變速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。（選購：線性與非線性溫變）

5.溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）

6.溫度波動度：±0.5℃。

7.溫度均勻度：±2.0℃。

8.濕度波動度：±1.0%RH。

9.濕度均勻度：±3%R.H。

10.溫濕度值偏差：≤±2.0℃/3%RH。

11.電源：AC380V（五線制）±5%。

11.制冷系統：*壓縮機低噪音模塊化二元復疊熱交換設計水冷式制冷機組。

12.加熱系統：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管，空氣式控溫。

13.節能方式：冷端PID調節（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調溫方式節能30%。

14.保護裝置：壓縮機過載、過流、超壓保護、漏電保護、內箱超溫保護、加熱管空焚保護。

15.快速溫度變化試驗箱標準型號及規格選擇如下，可按需求非標定制。

 型 號        內箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-500L    W800×H900×D700     W1100×H2100×D1450

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

高低溫快速循環箱參考標準

1.MIL-344A-4-16 電子設備環境應力篩選。

2.MIL-2164A-19 電子設備環境應力篩選方法。

3.NABMAT-9492 美軍海軍制造篩選。

4.GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環境應力篩選指南。

5.GJB 1032-90 電子產品環境應力篩選方法。

6.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第3部分：高溫試驗。

7.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第4部分：低溫試驗。

8.GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第9部分：濕熱試驗。

9.GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則。

10.GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

11.GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫。

12.GB/T 2423.3-2016 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。

13.GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱。

14.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）試驗N：溫度變化試驗。

15.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環試驗。

高低溫快速循環箱試驗條件

1. NABMAT-9492美軍制造篩選

溫度范圍：+55℃～-53℃；溫變速率：15℃/min；循環數：≧40次 駐留時間為內部達到溫度15℃時。

2. GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環境應力篩選

溫度范圍：+70℃～-55℃；溫變速率：5℃/min；循環數：≧10次 達到溫度穩定的時間。

3. 筆記型計算機

溫度范圍：+85℃～-40℃；溫變速率：15℃/min；循環數：≧10次 達到溫度穩定的時間。

4. GJB-1032-90、MIL-2164A-19電子設備環境應力篩選

溫度范圍：+125℃～-55℃；溫變速率：10℃/min；循環數：10次；駐留時間為內部達到溫度10℃時。

5. MIL-344A-4-16電子設備環境應力篩選

溫度范圍：+71℃～-54℃；溫變速率：5℃/min；循環數：10次；循環時間：3h20min。

6. GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環境應力篩選

溫度范圍：+85℃～-55℃；溫變速率：15℃/min；循環數：≧25次 達到溫度穩定的時間。