產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產業(yè),電子,綜合 |
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 F10-HC
以F20平臺為基礎所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統,能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度,加上F10-HC軟件*的先進模擬演算法的設計,能夠在厚膜中測量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。
前所未見的簡易操作界面
現在,具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用,這個功能允許用戶匯入樣品的影像(請參考下頁),并直接在影像上定義測量位置。系統會自動通知使用者本次測量結果是否有效,并將測量的結果顯示在匯入的影像上讓用戶分析。
不需要手動基準校正
F10-HC現在能夠執(zhí)行自動化基準矯正以及設置自己的積分時間這個創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量 。
背面反射干擾
背面反射干擾對厚度測量而言是一個光學技術的挑戰(zhàn),具有F10-HC系統的*接觸式探頭能將背面反射干擾的影響小化,使用者能以較高的準確度來測量涂層厚度。
附 加 特 性
• 嵌入式在線診斷方式
• 免費離線分析軟件
• 精細的歷史數據功能,幫助用戶有效地存儲,重現與繪制測試結果