日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ

摘要

太陽能光譜儀S-2440modelⅡ設(shè)計(jì)用于太陽或太陽模擬器光譜輻照度的測量。儀器的光譜響應(yīng)針對太陽光譜進(jìn)行了優(yōu)化，并且通過采用具有高靈敏度的檢測器、高效率的分光儀、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件，實(shí)現(xiàn)了測試的高度精que性。

特點(diǎn)

新設(shè)計(jì)的電子器件

為了降低溫度和噪聲導(dǎo)致的不穩(wěn)定，所有的電子回路進(jìn)行了新的設(shè)計(jì)，本產(chǎn)品不僅避免了發(fā)射的噪聲，而且抑制了回路中的噪聲。

※1. 與SOMA舊的型號的比較

針對太陽模擬器的測試進(jìn)行了優(yōu)化

儀器的光譜響應(yīng)進(jìn)行了調(diào)整，以保證對太陽模擬器的準(zhǔn)確測試。為了實(shí)現(xiàn)這一特點(diǎn)，儀器在紫外和近紅外區(qū)域的噪音水平進(jìn)行了改善。

脈沖光源的同步測量

上一代產(chǎn)品只能在脈沖開始后對光譜進(jìn)行測量。本產(chǎn)品能夠在脈沖開始前對光譜進(jìn)行測試。這一功能稱為事件觸發(fā)模式。

事件觸發(fā)模式通過采用重新設(shè)計(jì)的回路和軟件來實(shí)現(xiàn)。在這一模式下，儀器對光譜進(jìn)行連續(xù)測試。因此，脈沖前的光譜可以回歸得到，并且也可以得到脈沖后的光譜。計(jì)時(shí)信號由嵌入反射型擴(kuò)散板的硅光電二極管產(chǎn)生。計(jì)時(shí)信號和光強(qiáng)水平可以在0.01~1sun范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整。

采用顯著余弦特征的反射型擴(kuò)散板

尺寸：H15×W60×D80/φ40mm

高持久耐用并且易于保持其特點(diǎn)。本產(chǎn)品具有強(qiáng)的反射和顯著地余弦特征。

注意：當(dāng)光纖和擴(kuò)散器更換時(shí)，需要對儀器進(jìn)行重新校準(zhǔn)。

光譜匹配評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)

JIS C 8912-2011/IEC 60904-9(ED-2)-2007 （結(jié)晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器）

JIS C 8933-2011（非結(jié)晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器）

JIS C 8942-2009 （多結(jié)太陽能電池及組件的太陽模擬器）

ASTM（Direct AM1.5、Global AM1.5）-2009

所有標(biāo)準(zhǔn)的太陽模擬器的光譜匹配評價(jià)均可實(shí)現(xiàn)。

光譜匹配（A,B,C）可以在測試之后立即計(jì)算。

日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ

光譜輻照度的測試軟件

測試參數(shù)

光譜輻照度（μW/cm²/nm）：測試數(shù)據(jù)以曲線圖的形式示于顯示器中，文本數(shù)據(jù)（間隔1nm）也可以得到。

光譜匹配度：數(shù)據(jù)列表中的任意光譜數(shù)據(jù)均可以進(jìn)行評價(jià)。所選取的數(shù)據(jù)的光譜匹配度可以立即示于顯示器中。測試模式

1. 基本測試 主要用于連續(xù)光測試

2. 重復(fù)測試 可固定時(shí)間間隔重復(fù)測試

3. 事件引發(fā)模式 用于發(fā)射脈沖測試，引發(fā)脈沖前后的光譜均可得到。

4. 標(biāo)準(zhǔn)測試 通過對比標(biāo)準(zhǔn)發(fā)光器的光譜輻照度對產(chǎn)品進(jìn)行校正。

   事件引發(fā)模式

事件引發(fā)模式檢測器

1. 可以觀察引發(fā)脈沖的波形

2. 引發(fā)脈沖的光強(qiáng)可以從0.01~1sun范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整。調(diào)整可以通過拖動(dòng)滑塊SW方便操作。

3. 可以選擇引發(fā)脈沖前后光譜的數(shù)目

4. 可以選擇引發(fā)脈沖之后延遲的時(shí)間

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)

附光纖反射型擴(kuò)散板（L=0.9m）

觸發(fā)器線纜（L=0.9m）

光譜輻照度測試軟件

USB線纜（L=2.0m）

交流電適配器（LTE24E-S2-3）

檢驗(yàn)單

主要規(guī)格