AST橢偏儀薄膜分析MSP500-RTMF
- 公司名稱 北京燕京電子有限公司
- 品牌 AST/艾斯特
- 型號
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2022/8/5 12:10:23
- 訪問次數(shù) 1238
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),紡織皮革 |
AST橢偏儀薄膜分析MSP500-RTMF
AST橢偏儀薄膜分析MSP500-RTMF分析產(chǎn)品來自美國AST公司，其可以實現(xiàn)微小區(qū)域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量，同樣對于材料NK參數(shù)也可以實現(xiàn)測量，為人們針對薄膜微小區(qū)域進行分析提供了便利。
產(chǎn)品詳情
基本功能 | 1，針對微小區(qū)域測試單、多層透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系數(shù) |
產(chǎn)品特點 | l 強大的數(shù)據(jù)運算處理功能及材料NK數(shù)據(jù)庫； |
系統(tǒng)配置 | 型號：MSP500RTMF |
規(guī)格參數(shù)
波長范圍：250nm到1700 nm
波長分辨率: 1nm
光斑尺寸：100μm (4x), 40μm (10x), 30μm (15x), 8μm (50x)
基片尺寸：多可至20mm
測量厚度范圍: 20Å 到25 μm
測量時間：2毫秒
精度*：優(yōu)于0.5%(通過使用相同的光學(xué)常數(shù)，讓橢偏儀的結(jié)果與熱氧化物樣品相比較)
重復(fù)性誤差*：小于2 ?
可選配件項
l 波長可擴展到遠DUV或者長NIR范圍(～2500nm)
2 可根據(jù)客戶的特殊需求來定制
3 在動態(tài)實驗研究時，可根據(jù)需要對平臺進行加熱或致冷
4 可選擇的平臺尺寸多可測量300mm大小尺寸的樣品
5 更高的波長范圍的分辨率可低至0.1nm
6 各種濾光片可供各種特殊的需求
7 可添加應(yīng)用于熒光測量的附件
8 可添加用于拉曼應(yīng)用的附件
9 可添加用于偏光應(yīng)用的附件
應(yīng)用系統(tǒng)
主要應(yīng)用于透光薄膜分析類領(lǐng)域：
l 玻璃鍍膜領(lǐng)域(LowE、太陽能…)
2 半導(dǎo)體制造(PR，Oxide, Nitride…)
3 液晶顯示(ITO，PR，Cell gap...)
4 光學(xué)涂層，TiO2, SiO2, Ta2O5... ..
5 半導(dǎo)體化合物
6 在MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜
7 非晶體，納米材料和結(jié)晶硅
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