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致遠(yuǎn)電子周立功ZLG LAB7504邏輯分析儀

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堅(jiān)融實(shí)業(yè)——上海市先JIN企業(yè)!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——通過(guò)德國(guó)萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——擁有替代進(jìn)口品牌儀器儀表設(shè)備及非標(biāo)定制工廠!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——儀器儀表設(shè)備代理經(jīng)銷商中唯YI 一家有技術(shù)支持工程師的公司!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——實(shí)繳注冊(cè)資金人民幣壹仟萬(wàn)元整!實(shí)繳資本同行業(yè)中居全國(guó)QIAN三!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——抗金融風(fēng)險(xiǎn)實(shí)力超QIANG,且為行業(yè)里極少數(shù)通過(guò)會(huì)計(jì)事務(wù)所嚴(yán)格審計(jì)的公司,公司遵紀(jì)守法,用戶合作安全可靠!

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修計(jì)量,全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商!


專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年,志在破舊立新!填BU進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn),但技術(shù)支持薄弱甚至沒(méi)有,而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù),不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn),以我們先進(jìn)獨(dú)TE的經(jīng)營(yíng)理念,與客戶互惠互利合作雙贏,重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作,提供具競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。十六年精耕細(xì)作于儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。


經(jīng)營(yíng)品牌及產(chǎn)品:

一、測(cè)試技術(shù)方案【我們根據(jù)用戶實(shí)際應(yīng)用,撰寫(xiě)有上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用文章】:

USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測(cè)試、半導(dǎo)體I-V測(cè)試、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減、介電常數(shù)/電導(dǎo)率/阻抗分析、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗、材料耐壓絕緣電阻漏電流、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗(yàn)、大眾VW80000/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試、材料切割鑲樣磨拋金相分析......


二、環(huán)境可靠性試驗(yàn)/拉力試驗(yàn)/幾何精密測(cè)量/機(jī)器人手臂:

愛(ài)斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、

高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機(jī)、振動(dòng)臺(tái)、英斯特朗INSTRON拉力試驗(yàn)機(jī)。海克斯康HEXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/智能機(jī)械人手臂。


三、靜電檢測(cè)消除:

DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測(cè)試儀、靜電測(cè)試儀、離子風(fēng)機(jī)、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測(cè)試儀、電荷電量庫(kù)侖計(jì)、MET ONE百級(jí)潔凈室塵埃粒子計(jì)。


四、電子測(cè)量?jī)x器:

是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/致茂Chroma/羅德R&S/德國(guó)EA電源、電子負(fù)載、萬(wàn)用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計(jì)、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、信號(hào)源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計(jì)、電池測(cè)試儀。ZEROPLUS邏輯分析儀、Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測(cè)試儀。


五、生物制藥化學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器/傳感器:

賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計(jì)、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀、萬(wàn)通Metrohm滴定儀、電化學(xué)工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導(dǎo)率傳感器,天平。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀。愛(ài)色麗X-rite/美能達(dá)Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計(jì)。COSMOS潤(rùn)滑油鐵粉濃度計(jì)。


六、金相設(shè)備耗材:

賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標(biāo)樂(lè)Buehler切割機(jī)、研磨拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、顯微鏡、硬度計(jì)。



     企業(yè)在銷售過(guò)程中根據(jù)給用戶實(shí)際測(cè)試使用撰寫(xiě)有《芯片集成電路I2C、SPI測(cè)試》、《存儲(chǔ)器SD4.1、eMMC5.1測(cè)試》、《電腦周邊USB3.0、UART測(cè)試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測(cè)試》、《MVB、WTB總線軌道交通測(cè)試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測(cè)試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測(cè)試》、《GB/T國(guó)標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測(cè)試方案》、《防靜電地板/臺(tái)面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測(cè)試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測(cè)試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測(cè)試評(píng)估》、《6517B與B2985A高阻表測(cè)量電阻/體積電阻率》、《新材料先進(jìn)半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測(cè)試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)工作站測(cè)量線性掃描伏安特性CV、電流-時(shí)間曲線I-t、電勢(shì)、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測(cè)試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測(cè)試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預(yù)測(cè)試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號(hào)采集/射頻微波測(cè)試》、《音視頻綜合測(cè)試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測(cè)試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試》、《鑲嵌機(jī)、磨拋機(jī)在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A,KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測(cè)多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料,繼電器開(kāi)關(guān),汽車電子連接器微小電阻測(cè)試》、《靜電電量Static Charge電荷庫(kù)侖Coulomb測(cè)試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計(jì),DMM7510圖形萬(wàn)用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機(jī)實(shí)驗(yàn)》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流,二極管暗電流測(cè)試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測(cè)試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測(cè)試》、《半導(dǎo)體材料SiC,GaN等電流/電壓特性分析和功能測(cè)試》、《光電子/納米電子器件測(cè)試》、《LED照明測(cè)試》、《OLED,TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測(cè)試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測(cè)試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽(yáng)能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測(cè)試》、《機(jī)電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動(dòng)系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測(cè)測(cè)試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強(qiáng)度試驗(yàn)》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗(yàn)》、符合IEC61215IEC61730光伏標(biāo)準(zhǔn)耐壓測(cè)試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓測(cè)定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機(jī)械電氣設(shè)備耐壓試驗(yàn)規(guī)范》、《基于GB/TIECENULVDEJIS等各國(guó)安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標(biāo)準(zhǔn)的醫(yī)療器械泄漏電流測(cè)試》、《燈具/開(kāi)關(guān)插座/EV充電樁接地電阻測(cè)試》、《干濕球、不飽和、濕潤(rùn)飽和模式高壓加速老化試驗(yàn)》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗(yàn)》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)》、《樹(shù)脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用解決方案文章,為工業(yè)測(cè)試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。

     堅(jiān)忍不拔 圓融通達(dá) 是我們秉承的理念,嚶其鳴矣 求其友聲,我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠(chéng)共贏合作,為祖國(guó)測(cè)試行業(yè)“添磚加瓦”!


上海堅(jiān)融實(shí)業(yè).jpg

IMG_2472.JPG

上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)-營(yíng)業(yè)執(zhí)照副本掃描件.png

堅(jiān)友測(cè)量?jī)x器營(yíng)業(yè)執(zhí)照.jpg

TUV認(rèn)證.jpg

代理授權(quán)證/技術(shù)培訓(xùn)證:

用戶培訓(xùn):





總線測(cè)試協(xié)議解碼邏輯分析儀,靜電阻/靜電場(chǎng)測(cè)試儀,源表,干燥箱烘箱,高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱,LCR阻抗分析儀,示波器,頻譜儀,耐壓絕緣電阻測(cè)試儀

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 電子

專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦,專注工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域十六年,志在破舊立新!*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn),但技術(shù)支持薄弱甚至沒(méi)有,而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù),不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn),以我們*進(jìn)*的經(jīng)營(yíng)理念,與客戶互惠互利合作雙贏,重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作,提供較有競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。


產(chǎn)品型號(hào) 致遠(yuǎn)電子周立功ZLG LAB7504邏輯分析儀,致遠(yuǎn)ZLG LAB6052邏輯分析儀,LA2832A plus 致遠(yuǎn)電子周立功ZLG LA2832A邏輯分析儀

存儲(chǔ)容量(bits) 2G, 1G, 1G, 512M

存儲(chǔ)深度(bits/CH) 64M/128M(半通道), 32M, 64M, 32M 

高速定時(shí)采樣率 5GHz,-- ,-- ,--, --

分段存儲(chǔ)(段數(shù)) --, --,65536,32768

定時(shí)采樣率 500MHz/1GHz(半通道), 500MHz, 200MHz, 200MHz

狀態(tài)采樣率 250MHz ,250MHz ,80MHz ,80MHz

頻寬 250MHz, 250MHz, 80MHz, 80MHz

輸入通道 34CH ,32CH ,32CH ,32CH

記錄模式 -- ,-- ,支持, 支持

通道復(fù)用 32CH/16CH, -- ,32CH

壓縮存儲(chǔ) 支持, 支持

頻率計(jì) 支持2路 ,支持32路

邏輯筆 支持, 支持32路

外部觸發(fā) 支持觸發(fā)輸出、輸入, 支持觸發(fā)輸出、輸入

輸入范圍 -30V~+30V, -30V~+30V

探頭參數(shù) 100KΩ/15pF ,1MΩ/15pF

門(mén)限電壓 -10~+10V, -6~+6V

供電電源 DC 12V@2A(內(nèi)正外負(fù)) ,DC 5V@1A(內(nèi)正外負(fù))

協(xié)議解碼選型: 邏輯分析儀協(xié)議類型選型總覽表



1. 如何選擇邏輯分析儀

邏輯分析儀是一種類似于示波器的波形測(cè)試設(shè)備,它是用于監(jiān)測(cè)硬件電路工作時(shí)的邏輯電平,并加以存儲(chǔ), 用圖形的方式直觀地表達(dá)出來(lái),便于用戶檢測(cè)、 分析電路設(shè)計(jì)(硬件設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)) 中的錯(cuò)誤。 邏輯分析儀是設(shè)計(jì)特別是數(shù)字設(shè)計(jì)中*的設(shè)備,通過(guò)它,

可以迅速地定位錯(cuò)誤,解決問(wèn)題,達(dá)到事半功倍的效果。

相對(duì)于示波器, 邏輯分析儀往往給人有以下的感覺(jué):

1. 操作復(fù)雜, 對(duì)使用者的要求高;

2. 與示波器功能差不多;

3. 價(jià)格昂貴。

其實(shí)不然,邏輯分析儀在近的幾年中隨著數(shù)字電路的廣泛使用發(fā)展迅速,已經(jīng)成為很多電子開(kāi)發(fā)公司的必選設(shè)備之一。

邏輯分析儀的重要指標(biāo)有輸入通道數(shù)、定時(shí)采樣率、狀態(tài)采樣率、存儲(chǔ)容量、觸發(fā)方式、分析功能、其他功能等。表 1 為廣州致遠(yuǎn)電子有限公司出品邏輯分析儀的主要選型參數(shù),也是邏輯分析儀的重要選型指標(biāo)。


采樣通道數(shù)

在需要邏輯分析儀的地方,要對(duì)一個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行全面地分析, 邏輯分析儀的通道數(shù)至少應(yīng)當(dāng)足以把所有需要觀測(cè)的信號(hào)全部引入邏輯分析儀當(dāng)中。

定時(shí)采樣率

在定時(shí)采樣分析時(shí),要有足夠的定時(shí)分辨率,就應(yīng)當(dāng)有足夠高的定時(shí)分析采樣速率,但并不是只有高速系統(tǒng)才需要高的采樣速率。如果采樣頻率高,則可以看見(jiàn)更加精細(xì)的結(jié)果。

像 LAB7504 邏輯分析儀擁有 5GHz 的定時(shí)采樣率,對(duì)信號(hào)間的時(shí)間分辨率高達(dá) 200ps,*現(xiàn)代器件 ns 級(jí)的測(cè)量。

狀態(tài)采樣率

在進(jìn)行狀態(tài)分析時(shí),邏輯分析儀采樣時(shí)鐘使用外部輸入時(shí)鐘,在外部時(shí)鐘的驅(qū)動(dòng)下進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。外部輸入時(shí)鐘的高頻率決定了邏輯分析儀的高狀態(tài)采樣率。 LAB7000 和LAB6000 系列邏輯分析儀除了擁有標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)采樣模式外,還擁有帶時(shí)間戳的狀態(tài)采樣模

式。帶時(shí)間戳的狀態(tài)采樣模式讓用戶不但可以觀察到不同的輸入狀態(tài),更加可以測(cè)每個(gè)輸入狀態(tài)與外部同步時(shí)鐘之間的關(guān)系。

存儲(chǔ)容量

存儲(chǔ)容量是指邏輯分析儀能夠連續(xù)保存采樣點(diǎn)的數(shù)量,直接一點(diǎn)說(shuō),就是邏輯分析儀能夠測(cè)量多長(zhǎng)時(shí)間的波形。存儲(chǔ)容量越大能夠觀察的時(shí)間就越長(zhǎng),但由于高速存儲(chǔ)器的價(jià)格都比較高,所以存儲(chǔ)容量越大相應(yīng)的邏輯分析儀價(jià)格就越高。 LAB7000、 LAB6000、 LA2000A

系列邏輯分析儀*的 Timing-State 模式可以很好的自動(dòng)平衡存儲(chǔ)容量、觀測(cè)時(shí)間和測(cè)量精度的三者關(guān)系,運(yùn)用 Timing-State 技術(shù)可以使邏輯分析儀在相同的存儲(chǔ)容量下同時(shí)具有很高測(cè)量精度和更長(zhǎng)的觀測(cè)時(shí)間。

觸發(fā)方式

相比示波器,邏輯分析儀提供了豐富的觸發(fā)模式。除去邊緣觸發(fā)外,邏輯分析儀一般都具有針對(duì)總線范圍、總線間關(guān)系、事件次數(shù)等觸發(fā)方式。 LAB7000、 LAB6000、 LA2000A系列邏輯分析儀還可以對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行范圍、 =、! =、 >、 <等比較。同時(shí), LAB7000、 LAB6000、

LA2000A 系列邏輯分析儀提供可視觸發(fā)、協(xié)議觸發(fā)、插件觸發(fā)、用戶自定義觸發(fā)、高速 SPI觸發(fā)等多種觸發(fā)方式。

分析功能

分析功能是邏輯分析儀的大亮點(diǎn),也是邏輯分析儀區(qū)別于其他儀器的重要指標(biāo)。邏輯分析儀對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行時(shí)序和狀態(tài)的分析。廣州致遠(yuǎn)電子有限公司出品的邏輯分析儀可以更進(jìn)一步的提供針對(duì) I2C、 SPI、 UART、 ModBus、 1-Wire 等總線分析和 SD 卡、 CF 卡等高層

協(xié)議的分析,針對(duì)處理器的反匯編分析等功能。

其他功能

廣州致遠(yuǎn)電子有限公司出品的邏輯分析儀提出了數(shù)字電路測(cè)量平臺(tái)的概念,在設(shè)計(jì)之初就融入了頻率計(jì)、邏輯筆、總線分析儀、協(xié)議分析儀等功能,用戶在一個(gè)軟件界面上實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多種測(cè)量的觀察,一機(jī)多用,省去用戶重復(fù)投資。廣州致遠(yuǎn)電子有限公司


2. 解答邏輯分析儀使用過(guò)程中的常見(jiàn)問(wèn)題解答

2.1 邏輯分析儀處于離線狀態(tài)

如果在硬件連接及軟件安裝都完成后, 將邏輯分析儀的電源接好,并用 USB 線將分析儀和電腦連接,此時(shí)如果邏輯分析儀處于離線狀態(tài), 原因可能有以下三種:

一是供電不足,電源線沒(méi)有接好或者是沒(méi)有打開(kāi)電源按鈕;

二是硬件連接問(wèn)題, 請(qǐng)檢查 USB 線是否有問(wèn)題或者 USB 線是否連接正常。

三是 USB 驅(qū)動(dòng)安裝有問(wèn)題。 在 我的電腦→右擊屬性→硬件→設(shè)備管理器,在通用串行

總線控制器列表中尋找 zlglogic 設(shè)備,如果沒(méi)有此設(shè)備則證明確實(shí)是以上所陳述的兩種原因。

如果發(fā)現(xiàn)有一個(gè)前面打問(wèn)號(hào)的 zlglogic 設(shè)備,則說(shuō)明肯定是驅(qū)動(dòng)沒(méi)有安裝好,此時(shí)的解決方法是進(jìn)行強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)安裝,您可在我們的網(wǎng)站上下載強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)安裝文件并進(jìn)行手動(dòng)安裝。

四還是供電不足的問(wèn)題,如果在設(shè)備管理器里查看設(shè)備的時(shí)候可以看到這個(gè)設(shè)備,而且前面沒(méi)有問(wèn)號(hào),那就有可能是供電不足的問(wèn)題,此時(shí)插上電源適配器,看是否在線。

五是軟件被攔截。如果以上四個(gè)原因都已經(jīng)排除, 則有可能是殺毒軟件或者防火墻軟件等高安全系數(shù)將邏輯分析儀的軟件攔截了。將此類軟件先禁用,看問(wèn)題是否可以解決。

六, 臺(tái)式機(jī)前面的 USB 口和后面的 USB 口的信號(hào)完整性不同,如果問(wèn)題無(wú)法解決就換到后面的 USB 口試試,因?yàn)楹竺娴?USB 口是直接從主板上引出來(lái)的。

2.2 采集不到數(shù)據(jù)或者采集到錯(cuò)誤數(shù)據(jù)

若邏輯分析儀已經(jīng)處于在線狀態(tài)情況下, 信號(hào)線卻沒(méi)有任何反應(yīng),則首先應(yīng)檢查測(cè)量線是否已經(jīng)連接在有信號(hào)的被測(cè)信號(hào)上,如果確定有輸入的信號(hào),則應(yīng)該檢查接地是否良好,常常會(huì)因?yàn)闆](méi)有接地良好,后導(dǎo)致信號(hào)無(wú)法正常采集。 甚至有時(shí)候被采集系統(tǒng)已經(jīng)斷電了,

但邏輯分析儀仍然采集到了數(shù)據(jù),這也是因?yàn)榈鼐€沒(méi)有接好。所以信號(hào)采集出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)應(yīng)首先檢查地線是否接好。

2.3 邏輯分析儀測(cè)量線在懸空時(shí)測(cè)得的數(shù)據(jù)

邏輯分析儀(除 LA5034)的測(cè)量線在懸空(即不接任何負(fù)載)的情況下,測(cè)得的信號(hào)將是高電平。而 LA5034 的測(cè)量線在懸空時(shí)。測(cè)得的信號(hào)電平的狀態(tài)跟門(mén)限電壓的設(shè)置相關(guān),處于不定態(tài)。

2.4 邏輯分析儀通道有電壓輸出,會(huì)不會(huì)影響設(shè)備?

用萬(wàn)用表測(cè)量邏輯分析儀測(cè)量通道的輸出,有 2.6V 左右的電壓,會(huì)不會(huì)對(duì)設(shè)備提供上拉并造成影響?

問(wèn)題解答: 邏輯分析儀的測(cè)量通道直接接到高速比較器輸入端,有可能由于比較器存在漏電流而產(chǎn)生漏電壓。

通過(guò)仔細(xì)測(cè)試,結(jié)果如下: A、 B 口對(duì)外的電壓是高速比較器的漏電流產(chǎn)生的,有 5uA左右的電流,這個(gè)漏電流在業(yè)界已經(jīng)很小, 經(jīng)測(cè)量,邏輯分析儀正向輸入電阻為 50M,反向輸入電阻為 5M。只要被測(cè)對(duì)象的輸出內(nèi)阻小于 500K 就不會(huì)對(duì)被測(cè)對(duì)象造成任何影響。

因?yàn)槿f(wàn)用表的輸入阻抗大概有 10M 左右,所以能夠測(cè)量出電壓。一般我們?cè)O(shè)備輸出電阻都是很小的,如一個(gè) 5V 的 TTL 器件,其輸出電流一般有 10mA~20mA 以上,輸出電阻為5V/10mA=500 歐姆以下,只要你的輸出電流能夠大于 5uA 就不會(huì)對(duì)你的設(shè)備造成影響,所廣州致遠(yuǎn)電子有限公司


以對(duì)于一般的應(yīng)用不會(huì)造成影響的。

2.5 邏輯分析儀在使用 Timing_state 模式時(shí)不能將 32 根測(cè)量線全部接入

由于在使用 Timing_state 模式時(shí),有一根測(cè)量線是用來(lái)存儲(chǔ)壓縮數(shù)據(jù)的,所以在使用Timing_state 模式時(shí),多只能使用 31 根測(cè)量線。

2.6 軟件觸發(fā)對(duì)話框出現(xiàn)亂碼

安裝完軟件后在觸發(fā)設(shè)置菜單里面出現(xiàn)亂碼,如下圖所示。

問(wèn)題解答: 在觸發(fā)設(shè)置窗口區(qū)域內(nèi)點(diǎn)擊鼠標(biāo)右鍵,選擇“編碼→簡(jiǎn)體中文”選項(xiàng)即可,如下圖所示。如果還不行,可將“自動(dòng)選擇” 選項(xiàng)勾選上,然后再選擇“簡(jiǎn)體中文”,多試兩次一定能夠解決問(wèn)題。

2.7 邏輯分析儀能采樣多長(zhǎng)時(shí)間

這個(gè)問(wèn)題要分兩種情況來(lái)分析,一種是采用定時(shí)采樣(timing),第二種是采用動(dòng)態(tài)采樣(timing-state)。

一、定時(shí)采樣(timing)

定時(shí)采樣能采集的時(shí)間長(zhǎng)短與采樣頻率和存儲(chǔ)深度有關(guān),每一個(gè)存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)的時(shí)間為采集時(shí)鐘的周期。設(shè)采樣頻率為 Fc,每通道存儲(chǔ)容量為 M,則邏輯分析儀能夠持續(xù)的

采樣時(shí)間為:T = M × 1/Fc

舉例說(shuō)明,使用 LA2532 邏輯分析儀,采樣頻率為 100MHz,則采樣時(shí)間為:T = 1Mbits × 1/100MHz = 1048576 × 10ns ≈ 10.5ms

即 1Mbits 存儲(chǔ)深度 100MHz 采樣頻率能采集 10ms 長(zhǎng)度的信號(hào)。因此邏輯分析儀的型號(hào)一但確定,那么采集時(shí)間只與采集頻率有關(guān)。

二、動(dòng)態(tài)采樣(timing-state)

動(dòng)態(tài)采樣(timing-state)是 LAB7000、 LAB6000、 LA2000A 系列邏輯分析儀*的采樣模式。 當(dāng)邏輯分析儀的硬件確定后,采樣時(shí)間只與被采集信號(hào)的變化率有關(guān)。被采樣信號(hào)頻率越低,能采樣的時(shí)間就越長(zhǎng)。

如果您想在不升級(jí)硬件的基礎(chǔ)上增大采樣時(shí)間,您可以通過(guò)適當(dāng)降低定時(shí)采樣率或者將采樣設(shè)置里的 timing-state 選項(xiàng)勾選上,一般情況下都是可以大大增加采樣時(shí)間的,但這是跟被采樣信號(hào)的變化率息息相關(guān)的,被采樣信號(hào)變化率越低,可以增加的采樣時(shí)間就越長(zhǎng)。

但如果采取這些措施后仍然無(wú)法滿足時(shí)間需求,您就只能對(duì)硬件進(jìn)行升級(jí)了。 即購(gòu)買更高型號(hào)的邏輯分析儀,從而增大每通道的存儲(chǔ)深度,從根本上解決采樣時(shí)間的問(wèn)題。


2.8 關(guān)于狀態(tài)優(yōu)先和位置優(yōu)先的理解

位置優(yōu)先: 位置優(yōu)先模式保證了觸發(fā)點(diǎn)一定會(huì)落在用戶的觸發(fā)位置上。如圖所示。

從圖中可以看出,用戶設(shè)置的觸發(fā)位置為 xx%,當(dāng)啟動(dòng)邏輯分析儀采集時(shí),數(shù)據(jù)會(huì)馬上被采集并存入存儲(chǔ)器中,在數(shù)據(jù)末存滿到的觸發(fā)位置前,即使有出現(xiàn)符合觸發(fā)條件的觸發(fā)信號(hào),它也不會(huì)觸發(fā)的,只有當(dāng)數(shù)據(jù)存滿至用戶設(shè)置的觸發(fā)位置后,出現(xiàn)符合觸發(fā)條件

的信號(hào)才會(huì)觸發(fā)。

狀態(tài)優(yōu)先: 狀態(tài)優(yōu)先不能保證觸發(fā)點(diǎn)一定會(huì)落在用戶的觸發(fā)位置上。它符合觸發(fā)條件的觸發(fā)信號(hào)的出現(xiàn)有關(guān),如圖所示。

從圖中可以看出,然后用戶設(shè)置的觸發(fā)位置為 xx%,但是實(shí)際的觸發(fā)位置確是在前面,也即是只要有符合觸發(fā)條件的信號(hào),它就會(huì)立即觸發(fā),而不管是否到了用戶設(shè)置的觸發(fā)位置。

當(dāng)然狀態(tài)優(yōu)先也有可能會(huì)存在觸發(fā)點(diǎn)剛好在觸發(fā)位置上的情況,當(dāng)數(shù)據(jù)存滿到用戶觸發(fā)位置前沒(méi)出現(xiàn)符合觸發(fā)條件的信號(hào),那么它的觸發(fā)點(diǎn)將會(huì)落在觸發(fā)位置上,如下圖所示。

狀態(tài)優(yōu)先的存在是為了避免錯(cuò)過(guò)出現(xiàn)機(jī)率較少的觸發(fā)條件,假若只使用位置優(yōu)先,觸發(fā)條件只出現(xiàn)一次,且出現(xiàn)在數(shù)據(jù)存滿觸發(fā)位置之前,那么該觸發(fā)將捕抓不到,造成無(wú)觸發(fā)的錯(cuò)誤分析。


上面分析所講的存儲(chǔ)空間,其地址和觸發(fā)位置都是相對(duì)的,并不是存儲(chǔ)器的物理地址,這點(diǎn)要注意。另外為了便于理解,你可以認(rèn)為當(dāng)數(shù)據(jù)存到觸發(fā)位置時(shí),之后每存一個(gè)數(shù)據(jù),先存的那個(gè)數(shù)據(jù)就丟掉,這樣觸發(fā)位置就一直保持在用戶設(shè)置的觸發(fā)位置點(diǎn)上,只需

等待符合觸發(fā)條件的信號(hào)到達(dá)就可以繼續(xù)往前存儲(chǔ)了,直到存滿存儲(chǔ)器。

2.9 關(guān)于邏輯分析儀觸發(fā)次數(shù)的理解

邏輯分析儀采集數(shù)據(jù)直到存儲(chǔ)器滿才能觸發(fā)一次,即觸發(fā)一次后,如果還有觸發(fā)信號(hào)到來(lái)時(shí),它并不會(huì)提示觸發(fā),但會(huì)繼續(xù)記錄數(shù)據(jù),直至此次采集數(shù)據(jù)完成。因此并不是一有觸發(fā)信號(hào)觸發(fā)次數(shù)就會(huì)增加。

2.10 UART 不能進(jìn)行插件觸發(fā)

UART 的分析,實(shí)質(zhì)上是由邏輯分析儀對(duì)信號(hào)進(jìn)行抽樣分析,分析檢測(cè)原理和 UART接收器一樣,需要 16 倍 UART 波特率以上的采樣頻率才能正確解析。因此要求邏輯分析儀的采樣頻率至少要是 UART 波特率的 16 倍以上才能正確的進(jìn)行插件分析和插件觸發(fā)。如采

115200bps 的信號(hào),則至少要用 2MHz 的采樣頻率。

2.11 以 CSV 格式導(dǎo)出的文件中 Time 間隔不一樣

在邏輯分析儀采集完數(shù)據(jù)后, 這些數(shù)據(jù)往往需要被導(dǎo)出并進(jìn)行二次利用。因此我們的軟件具有數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能,可以以 CSV 格式或者二進(jìn)制文件格式進(jìn)行導(dǎo)出。

以CSV文件格式導(dǎo)出后的結(jié)果如下圖所示,其中Time的時(shí)間是狀態(tài)變化的時(shí)刻的時(shí)間,只要信號(hào)變化不大,則時(shí)間也不會(huì)改變,因此時(shí)間欄的時(shí)間不是等長(zhǎng)的。

然而, 保存成 Bin 格式文件時(shí),它是按 Timing 格式保存,也即是不管壓不壓縮,都按32位(因?yàn)橛?2個(gè)通道)采樣點(diǎn)來(lái)保存,即兩數(shù)據(jù)間的時(shí)間是等長(zhǎng)的;如采樣頻率為100MHz,則兩個(gè)數(shù)據(jù)之間的間隔為 10nS。

2.12 CAN 總線測(cè)量方案

由于我們的邏輯分析只能測(cè)量單端信號(hào),而 CAN 總線是差分信號(hào),所以只能單獨(dú)測(cè)CAN 總線的 CANH 或者 CANL,不能同時(shí)測(cè)量?jī)筛盘?hào)(若要同時(shí)測(cè)也有辦法,見(jiàn)下述第三種測(cè)量方式)。根據(jù) CAN 的電平屬性(CANH 平時(shí)為 2.5V,高時(shí)為 4~5 伏, CANL 平時(shí)

為 2.5V,低時(shí)為 0V),所以 CAN 總線有三種測(cè)量方式。

一種測(cè)量方式,邏輯分析儀的地線接系統(tǒng)地,其中一通道接 CANH,然后設(shè)置邏輯分析的比較門(mén)限電平為 3V 左右就可以。

第二種測(cè)量方式,系統(tǒng)地沒(méi)引出來(lái),邏輯分析儀的地線接 CANL,測(cè)量通道接 CANH,這種方式要特別注意,由于 PC 地(即邏輯分析儀地)與被測(cè)系統(tǒng)地是共地的,所以需要做隔

離,這個(gè)要特別注意,操作方法如下,需要用筆記本電腦測(cè),而且電腦不能接外置電源,以保證隔離效果。

第三種測(cè)量方式,同時(shí)測(cè) CANL 和 CANH,邏輯分析儀的 PODA,和 PODB 的比較電壓是可以單獨(dú)調(diào)的,這時(shí)我們可以用 PODA 的測(cè)量通道接 CANH,并且設(shè)置 PODA 的比較電平設(shè)為 3V 左右。用 PODB 的測(cè)量通道接 CANL,并且設(shè)置 PODB 的比較電平為 1.5V 左

右。這樣就可以同時(shí)觀測(cè)兩個(gè)信號(hào)。

2.13 邏輯分析儀保存的文件不能打開(kāi)

以前用邏輯分析儀保存的文件,現(xiàn)在打不開(kāi)。

問(wèn)題解答: 以前的軟件(3.x 版本)和現(xiàn)在的軟件(4.x 版本)的架構(gòu)是不同的,保存的文件格式是不兼容的,所以會(huì)出現(xiàn)上述問(wèn)題。只能用回舊的軟件來(lái)打開(kāi)文件。

2.14 IIC 插件分析錯(cuò)誤碼

IIC 插件分析每次分析結(jié)果都不一樣,而數(shù)據(jù)實(shí)際上是一樣的,如下圖所示,兩個(gè)圖的IIC 數(shù)據(jù)目測(cè)都能看得出來(lái) IIC 地址都是 0x2A 是一樣的,而分析結(jié)果有時(shí)確是錯(cuò)誤的。

問(wèn)題解答: IIC插件分析是根據(jù)SCL信號(hào)跳變來(lái)判斷的,如果分析的數(shù)據(jù)中出現(xiàn)有毛刺,極有可能會(huì)造成協(xié)議分析錯(cuò)誤。這里可將數(shù)據(jù)放大,觀察 SCL 信號(hào)線的邊沿附近是否有毛

刺。將上面協(xié)議分析錯(cuò)誤部分放大,如下圖所示,確實(shí)可以觀察到有毛刺存在,從而導(dǎo)致協(xié)議分析錯(cuò)誤。

由于 IIC 總線的時(shí)鐘頻率比較低,因此可以通過(guò)降低采樣頻率來(lái)解決協(xié)議分析錯(cuò)誤的問(wèn)題,或者打開(kāi)軟件濾波將毛刺過(guò)濾掉,使插件解碼正確。

2.15 RS485 總線測(cè)量方案

使用單端采樣方式進(jìn)行分析;

分析過(guò)程: RS-485 的協(xié)議和 RS-232 是一樣的,只不過(guò)電平特性是差分的,因?yàn)槲覀兊倪壿嫹治鲋荒軠y(cè)量單端信號(hào),因此只能單獨(dú)測(cè) RS-485 總線的 A 端或 B 端。因?yàn)?RS485 協(xié)議規(guī)定當(dāng)在接收端 A-B 之間有大于+200mV 的電平時(shí),輸出為正邏輯電平;小于-200mV 時(shí),

輸出為負(fù)邏輯電平。單端信號(hào)線的協(xié)議和 UART 協(xié)議是一樣的,因此可以對(duì) A 端數(shù)據(jù)進(jìn)行UART 分析,邏輯分析儀的地線接設(shè)備系統(tǒng)地。如果不知哪個(gè)是 A 端,可以先用邏輯分析進(jìn)行預(yù)采樣判斷, A、 B 端都接到邏輯分析儀,然后進(jìn)行采樣,如下圖所示,空閑時(shí)為高電

毛刺平的線的為 A 端。

通訊參數(shù)的設(shè)置和 UART 協(xié)議一樣。分析的結(jié)果如下圖所示:

注意事項(xiàng): 由于差分信號(hào)根據(jù)系統(tǒng)的不同及傳輸距離的的長(zhǎng)度不同,電壓幅值范圍不定。

因此分析之前要調(diào)整好邏輯分析的比較電壓,以確保能夠正確采樣到數(shù)據(jù)。如果有必要的話可以先用示波器測(cè)量 A 端的信號(hào)幅值范圍,然后再確定一個(gè)中間比較值,如果沒(méi)有示波器的話,可以用默認(rèn)的 1.5V 比較電平進(jìn)行采樣,然后按照已采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行協(xié)議分析,如果

不正確的話則要重新調(diào)整比較電壓,直到正確分析為止。

如果能保證設(shè)備的地和 PC 的地是隔離的,也可以用邏輯分析儀的測(cè)試通道接 A 端,邏輯分析儀的地線接 B 端進(jìn)行測(cè)量分析(注意:設(shè)備的地和 PC 的地是一定要是隔離的才能這么接,否則可能會(huì)損壞設(shè)備)。

2.16 SPI、 IIC、 SSI 具有時(shí)鐘信號(hào)數(shù)據(jù)分析錯(cuò)誤問(wèn)題描述: SPI、 IIC、 SSI 等具有 CLK 時(shí)鐘信號(hào)的協(xié)議,在分析數(shù)據(jù)時(shí)。在不夠位數(shù)的情況下分析出數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)分析混亂,出錯(cuò)。

問(wèn)題分析: 出現(xiàn)此種情況一般是由于 CLK 信號(hào)出現(xiàn)毛刺造成的。 例如,在此圖中 0xC 是 8bit 位的是 5 個(gè) CLK 信號(hào)就顯示出來(lái), 其錯(cuò)位原因主要是因?yàn)樵谏蠄D畫(huà)紅線的地方出現(xiàn)了毛刺。放大前兩個(gè)時(shí)鐘部分分別是:

解決辦法:

1、在采集數(shù)據(jù)時(shí)開(kāi)啟數(shù)據(jù)濾波(部分邏輯分析儀支持)

2、降低采樣頻率(此方法可以降低,但是還是有一定的幾率)

3、微調(diào)門(mén)限電壓



致遠(yuǎn)電子周立功ZLG LAB7504邏輯分析儀,LAB6052,LA2832Aplus,LA2832A何謂 " 邏輯分析儀 "邏輯分析儀是一種類似于示波器的波形分析設(shè)備,能夠連續(xù)不斷地采集電路的邏輯電平,并通過(guò)存儲(chǔ)和波形顯示直觀地呈現(xiàn)信號(hào)時(shí)序關(guān)系,幫助用戶快速調(diào)試電路中存在的通信問(wèn)題。



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