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努美(北京)科技有限公司

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QE-2000 量子效率測量系統

具體成交價以合同協議為準

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      大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價·檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源·照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價·檢查。

  以高速·高精度·高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎, 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實例, 為許多廠家在研究開發、生產部門所使用。并且在光源·照明 相關方面,對研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。

  在中國的蘇州有設立售后服務點,為了能迅速且周到的為顧客服務而努力。

  我公司的母公司日本大塚電子集團,隸屬于大冢集團, 一直以來都謹守大冢集團 的企業理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創造革新的產品),不斷的推出創新產品,面向開展業務,為社會作出貢獻。

 

zeta電位?粒徑?分子量測量系統,晶圓在線測厚系統,線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學材料檢測設備,非接觸光學膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統,量子效率測量系統

測量模式 直流 產地類別 進口
價格區間 面議 應用領域 醫療衛生,化工,電子,印刷包裝,電氣

量子效率測量系統 QE-2000/2100

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>量子效率測量系統</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong> QE-2000/2100

量子效率測量系統可瞬間測量量子效率(量子收率)。適用于粉體、溶液、固體(膜)、薄膜樣品的測量。通過低迷光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區域的迷光。另,采用了積分半球unit,實現了明亮的光學系的同時,運用其再激勵熒光補正的優點,可進行高精度的測量。另,QE-2100對應范圍廣,從量子效率的溫度依賴性測量或紫外~近紅的的波長范圍。

產品信息

特 點

1)測量精度高

  • 可瞬間測量量子效率(量子收率)
  • 可去除再激勵熒光發光
  • 采用了積分半球unit,實現了明亮的光學系
  • 采用了低迷光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區域的迷光

2)操作簡單

  • 專業軟件,操作簡單
  • 輕松裝卸樣品測量用cell
  • 小型設計,省空間
  • 利用分光器型的激勵光源,可選擇任意波長
  • 可在軟件激勵波長的波長及step的值,進行自動測量

3)功能多

  • 可用于粉體、溶液、固體(膜)、薄膜樣品的測量
  • 豐富的解析功能

4)測量項目

  • 量子効率(量子收率)測量
  • 激勵波長依賴性測量
  • 發光光譜測量
  • PL激勵光譜測量
  • EEM(Excitation Emission Matrix)測量

5)用 途

  • LED、有機EL用熒光體的量子効率(量子收率)測量
  • 膜狀樣品的透過熒光?反射熒光的量子効率(量子收率)測量
  • 非接觸式熒光粉用熒光體樣品等
  • 量子Dot、熒光探頭、生體領域、包接化合物等的熒光測量
  • 色素敏化型太陽電池的量子効率(量子收率)測量
  • 絡化物化合物的測量

精度高的理由

1.積分半球的理想的光學系

QE-2000搭載了積分半球。積分半球與積分球()相比,有以下特點
• 可將非發光部分(手柄等)隔離在外部,有效控制了自我吸收,實現了理想的光學系。
• 通過鏡子可將同一測量點的發光強度增加約2倍,測量的感光度好
• 輕松裝卸樣品測量用cell、劃傷積分球內部的風險小

2.根據再激勵熒光補正功能,觀察”真正德物性值”

包括再激勵熒光發光狀態下,不僅不能觀察材料本身的物性,也不能觀測到包含裝置的特性,無法求出真正的物性值。QE-2000通過利用積分半球的再激勵熒光補正的特點,可簡單的測量出真正的物性值,且精度高。

QE-2000_05.jpg

 

 

 

 

 

3.通過低迷光多通道分光檢出器,降低紫外區域的迷光

以往的檢出器(多色儀),因檢測出的紫外區域的迷光很高,可以說不適合量子効率(量子收率)的測量。大塚電子開發出了去除迷光的技術,這個問題也得以解決。搭載在QE-2000上的多通道分光檢出器,與本公司以往的產品相比,迷光量約1/5,即使在紫外區域,測量的精度也非常高。

規格式樣

 

降低雜散光的多通道分光光譜儀

波長范圍

250nm ~ 800nm (視光譜儀規格)

光譜儀分光元件

全息成像光柵 F=3 f=135 mm

波長精度

±0.3 nm

感光元件

電子冷卻型CCD影像感測器

感光元件解析能力

1.2nm / pixel

受光光纖

石英制光纖、外層技術包覆、固定口徑φ12 mm

 

激發光源系統

激發光源套件

150W Xe燈 + 分光光柵

激發波長范圍

250nm ~ 700nm

波長掃描方式

Sine Bar正弦桿方式

 

其它

積分半球設備
(HalfMoon)

φ150 mm

 

電源

功率

700VA

AC輸入

100V ±10% 50 / 60Hz

Option
• 自動取樣器
• 樣品支架
①粉體測量用 SUS304制、有石英蓋子
②膜測量用 透過測量用樣品支架

軟件

直觀明了、使用方便的專業軟件。組裝好樣品測量用cell便可輕松測量量子効率(量子收率)、激勵光譜等。

測量例

1)粉體樣品的測量

BAM的復數激勵的測量例

激勵波長變化,量子効率(量子收率)也會隨之變化。下圖中顯示的時BAM(粉體)的量子効率(量子收率)及反射率的激勵波長依賴性。(BAM=BaMgAl10O17:Eu) ● 藍色(左邊的scale):再激勵補正后的內部量子効率(內部量子收率) ■ 紅色(右邊的scale):各激勵波長中的反射率根據此圖,如是BAM的情況時,激勵光越接近可視區域,收率越低。也就是反射率變大。

2)溶液樣品的測量

熒光素的激勵光譜測量

激勵光譜表示的是在哪段激勵波長中,熒光強度是大的光譜。右圖,表示的是熒光素的激勵光譜(藍色)和熒光強度大的激勵波長(493nm)時的熒光光譜(綠色)。

熒光素的內部量子効率(內部量子收率)測量

激勵波長493nm中的熒光素溶液的熒光光譜(含激勵光)如右圖所示。內部量子効率(內部量子收率)可得出和0.903(濃度6.43 x 10-6mol/L)、文獻值0.921)同等的值。 1) G. Weber and F. W. J. Teale, Trans Faraday Soc 53, 646(1957)

量子Dot的內部量子効率(內部量子收率)測量

量子Dot通過改變組成和內部構造,調整光學的特性的材料而被關注。量子Dot的激勵光譜和、激勵波長370nm時的熒光光譜見下圖。

 

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