Line--scan 線掃描膜厚儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型號 Line--scan
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2020/6/12 16:24:06
- 訪問次數(shù) 1751
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zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),晶圓在線測厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),量子效率測量系統(tǒng)
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,印刷包裝,電氣 |
線掃描膜厚儀可在線檢查整面寬幅薄膜,適用于生產(chǎn)。不受偏差的影響,高速測量,時間間隔僅10豪秒。
線掃描膜厚儀特點
- 采用線掃描方式檢測整面薄膜
- 硬件·軟件均為創(chuàng)新設(shè)計
- 作為專業(yè)膜厚測定廠商,提供多種支援
- 實現(xiàn)高精度測量
- 實現(xiàn)高速測量
- 不受偏差影響
- 可對應(yīng)寬幅樣品(TD方向大可測量10m)
式樣
測量項目 | 膜厚(FFT) |
位置分解能 | 1mm |
測量寬幅 | 500mm |
波長范圍 | 400~920nm |
各單元的波長寬幅 | 約0.6nm |
膜厚測量范圍 | 2~250μm |
測量間隔 | 10msec~ |
測量案例
500mm寬的包裝薄膜
實時測量,全寬、全長的不均勻性一幕了然。
因為我們是分光膜厚測量的,所以能實現(xiàn)高精度全寬·全長的測量。