zeta電位?粒徑?分子量測量系統,晶圓在線測厚系統,線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學材料檢測設備,非接觸光學膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統,量子效率測量系統
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 化工,石油,印刷包裝,制藥 |
小角激光散射儀 PP-1000利應用了小角光激光光散射法(Small Angle Laser Scattering,簡稱SALS),可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測,實時解析。與SAXS和SANS的裝置相比,檢測范圍更廣。利用偏光板的Hv散射測量可以進行光學各向異性的評價,解析結晶性膠片的球晶半徑,Vv散射測量可以進行聚合物混合的相關距離的分析。
特點
- l0.33 ~ 45°散射角度的測量,短測試時間10 毫秒
- l檢測范圍0.1μm ~數十微米
- l可以在溶液單元中測量溶液樣本
- lHv散射,Vv散射測量可以在軟件上輕松切換
用途
1)l高分子材料評價
→結晶性膠片
·結晶化溫度、球晶直徑、結晶化速度
·配光、光學異方性
→聚合物混合
·相分離過程和相關距離(分散度)
→高分子凝膠
·三維架橋結構的大小
→樹脂
·熱硬化樹脂和UV硬化樹脂的硬化速度
2)l粒子物性評價
粒子直徑,凝聚速度
檢測原理
小角激光散射儀由光源、偏振系統、樣品臺和記錄系統組成。單色激光照射到樣品時發生散射現象,散射光投射到屏幕上并被拍攝下來,得到樣品的散射條紋圖。
操作過程:
1.在樣品臺上放置樣品。
2.根據想要測量的對象調整檢偏片。
3.來自樣品的散射圖案會被相機記錄下來。
當起偏片與檢偏片的偏振方向正交時,得到的光散射圖樣叫做Hv散射;當起偏片與檢偏片的偏振方向均為垂直方向時,得到的光散射圖樣叫做Vv散射。從這些散射圖形中可以獲取球晶半徑、相分離結構、分散相顆粒平均粒徑、配向狀態等信息。
lHv散射
球晶半徑解析:
R = 4.09 / qmax
(R:球晶半徑,qmax:散射光強度大的散射向量)
q = 4πn/λsin(θ/ 2)
(q:散射向量,λ:介質中的波長,n:樣品折射率,θ:散射角)
lVv散射
ü對聚合物混合的相分離過程的評價
ü連續相與分散相的大小,分散相顆粒平均粒徑
ü粒子直徑的評價
ü相分離構造與相關距離檢測
小角激光散射儀 PP-1000技術參數
測定原理 | 小角光散射法 |
光源 | 半導體激光器(波長785nm) |
檢測器 | CMOS照相機 |
測定散亂角度 | 0.33°~45° |
散射圖樣 | Hv光散射、Vv光散射 |
光斑直徑 | 約1mm |
動態范圍 | 120db以上(使用HDR功能時) |
測定時間 | 10msec~※ |
解析項目 | 球晶半徑、相關距離 |
※徑使用HDR功能時為100msec
應用案例
溶融溫度
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230℃
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結晶化溫度
|
160℃ |
聚偏氟乙烯化學式
PP-1000散射圖樣
偏光顯微鏡圖樣
各時間45°方向的散射向量提取
球晶半徑計算