holmarc HO-A216MOE-PH 自動化薄膜測試站 推出了一種使用VIS-NIR波長的新型創新型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設備。HOLMARC A216測試站提供標準化的測試解決方案，以適合廣泛的旋光度測量應用。模塊化硬件設計使用戶可以在磁場和無磁場的情況下自動進行液體，固體和薄膜樣品的測量。

設計用于磁光材料的研究和測試，包括鐵磁和亞鐵磁薄膜和材料的磁特性。測量包括超薄磁性膜和多層的磁滯回線，橢圓率測量，介電材料的薄膜厚度測量，折射率，Δ和psi測量等。系統可以在極性，縱向和橫向配置下運行。

性能
 

    旋光度測量分辨率：±0.009度

    檢測靈敏度：0.009度（透明度大于20％）。

    穩定性：0.03度（透明度大于20％）。

    橢圓度測量：±0.01度。

    旋光度測量范圍：±90度。

    測量波長范圍：350-900 nm

    光譜帶寬：1 nm（可變帶通至10nm）

    高 磁場：17,500高斯

    小 場檢測：1高斯

    磁場精度：±0.05％

測量項目
 

    或測量具有法拉第效應的薄膜，晶體，液體等

    透明固體和液體的測量維爾德常數

    法拉第旋轉/橢圓角

    極角Kerr旋轉/橢圓率角

    所需波長下的磁場與法拉第旋轉角特性

    法拉第旋轉角度與波長色散特性

    法拉第旋轉角度與熱依賴性的關系（可選）

測量光學性質

 

    旋光度

    膜厚

    折光率

    吸收系數

    光電導率

    相速度

    組索引

    布魯斯特角

    空氣中的折射率

    摩爾折射率

    光子能量

    規范動量

    動量

    組速度

    PSI-Delta

    Epsilon 1和2

此款產品不用于醫療，不用于臨床使用，此產品僅用于科研使用。