HO-ED-INT-15 holmarc HO-ED-INT-15電子散斑圖案干涉儀
- 公司名稱 北京思睿維科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 HO-ED-INT-15
- 產地 印度
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2020/4/3 12:20:59
- 訪問次數 421
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 醫療衛生,生物產業 |
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holmarc HO-ED-INT-15電子散斑圖案干涉儀(ESPI)是研究表面變形的一種非破壞性光學方法。它依賴于來自測試對象的漫反射光與參考光束之間的干涉,這是ling敏的干涉技術之一,因此我們可以測量平面內或平面外的亞微米級位移。變形前后的圖像由CCD相機記錄,并使用圖像分析軟件進行分析。變形會導致條紋圖案發生變化,可以使用提供的軟件來分析這些變化來發現變形。
由于此干涉儀對振動噪聲高度敏感,因此霍爾馬克的ESPI帶有振動隔離光學面包板。使用輸出功率為5mW的線偏振632.8nm He-Ne激光器作為光源。分束器將激光束分成兩部分。透射光束通過空間濾光片組件均勻照射測試對象,而反射光束作為參考光束落在CCD上。照明的測試對象的圖像由變焦鏡頭和CCD捕獲。
我們的ESPI系統允許用戶在同一系統中執行電子斑點剪切干涉測量,而不會干擾光學裝置和對準。Holmarc的相機應用程序軟件有助于捕獲和分析圖像。
實驗范例
使用電子散斑圖案干涉儀(ESPI)觀察和研究物體相對于機械和熱負荷的變形
使用電子散斑切變干涉儀(ESSI)觀察和研究物體相對于機械和熱負荷的變形
技術指標
激光:He-Ne 5mW @ 632.8nm。
擴束鏡:帶針孔的20X顯微鏡物鏡。
變焦鏡頭:尼康®
相機:1 / 2.5“ 5 MPC MOS顏色
軟件:Holmarc相機應用軟件和圖像分析軟件。
光學面包板:1200mm x 900mm尺寸,帶有隔振支架。
特征
可以在可見光下進行測量
非接觸和全場測量
物體輪廓和位移測量
holmarc HO-ED-INT-15電子散斑圖案干涉儀
此款產品不用于醫療,不用于臨床使用,此產品僅用于科研使用。
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