HCTZ-2 四探針測(cè)試儀器
- 公司名稱(chēng) 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
- 品牌 北京華測(cè)
- 型號(hào) HCTZ-2
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2023/8/29 10:38:58
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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子,航天,電氣 |
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簡(jiǎn)介:
HCTZ-2型數(shù)字式四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。
儀器由主機(jī)、探針測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由四探針測(cè)試儀器主機(jī)直接顯示,亦可與計(jì)算機(jī)相連接通過(guò)四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)控制測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶(hù)可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶(hù)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。
儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻測(cè)試。
測(cè)量原理:
將四根排成一條直線的探針以一定的壓力垂直地壓在被測(cè)樣品表面上,在 1、4 探針間通以電流 I(mA),2、3 探針間就產(chǎn)生一定的電壓 V(mV)(如圖1)。測(cè)量此電壓并根據(jù)測(cè)量方式和樣品的尺寸不同。
直線四探針測(cè)試原理圖
技術(shù)指標(biāo):
1、測(cè)量范圍
電阻率:10-4~105Ω.cm;
方塊電阻:10-3~106Ω/□;
電阻:10-4~105Ω;
電導(dǎo)率:10-5~104s/cm;
可測(cè)晶片直徑:140mmX150mm (配S-2A型測(cè)試臺(tái));
200mmX200mm (配S-2B型測(cè)試臺(tái));
400mmX500mm (配S-2C型測(cè)試臺(tái));
2、恒流源
電流量程分為 1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào);
3、數(shù)字電壓表
量程及表示形式:000.00~199.99mV;
分辨力:10μV;
輸入阻抗:>1000MΩ;
精度:±0.1%;
顯示:點(diǎn)陣顯示屏;
4 、四探針探頭基本指標(biāo)
間距:1±0.01mm;
針間絕緣電阻: ≥1000MΩ;
機(jī)械游移率: ≤0.3%;
探針:碳化鎢或高速鋼材質(zhì),探針直徑Ф0.5mm;
探針壓力:5~16 牛頓(總力);
5 、四探針探頭應(yīng)用參數(shù)
C:探針系數(shù);
F:探針間距修正因子;
S:探針平均間距;
6、 模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差(按 JJG508-87 進(jìn)行)
0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字;
7 、整機(jī)測(cè)量大相對(duì)誤差
(用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm 測(cè)試)≤±5%;
8 、整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度≤5%;
9 、外型尺寸(大約)
電氣主機(jī): 460mm×320mm×100mm;
10 、儀器重量(大約)
電氣主機(jī): 3.5kg;
11、標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境
溫度::23±2℃;
相對(duì)濕度:≤65%;
無(wú)高頻干擾;
無(wú)強(qiáng)光直射;
注意:使用1μA量程時(shí),允許有小于1.0nA的空載電流.應(yīng)在相對(duì)濕度小于50%時(shí)使用。
設(shè)備特點(diǎn):
1、可以測(cè)量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率;
2、軟件、觸摸屏、高溫爐等集成于一體,可以進(jìn)行可視化操作;
3、可實(shí)現(xiàn)純凈氣氛條件下的測(cè)量;同時(shí)保證探針在高溫下不氧化;
4、采用labview軟件開(kāi)發(fā),操控性、兼容性好、方便升級(jí);
5、可自動(dòng)調(diào)節(jié)樣品測(cè)試電壓,探針和薄膜接觸閃絡(luò)現(xiàn)象;
6、控溫和測(cè)溫采用同一個(gè)傳感器,保證樣品每次采集的溫度都是樣品實(shí)際溫度;
7、可配套使用Keithley2400或2600數(shù)字多用表。
設(shè)備保養(yǎng):
經(jīng)常保持設(shè)備和計(jì)算機(jī)的清潔、衛(wèi)生。
預(yù)防高溫、過(guò)濕、灰塵、腐蝕性介質(zhì)、水等浸入機(jī)器或計(jì)算機(jī)內(nèi)部。
定期檢查,保持零件、部件的完整性。