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• JSM-7900F 熱場發射描電子顯微鏡
• JEOL新一代場發射掃描電子顯微鏡的旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的性能如*的空間分辨率、高穩定性、多種功能等的同時，操作性能*簡單化。該JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡設備不依賴操作者的技能，始終能夠發揮其佳性能。
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  JEOL新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的如*的空間分辨率、高穩定性、多種功能等性能的同時，操作性能*地簡單化。 該設備不依賴操作者的技能，始終能夠發揮其佳性能。

   產品特點

  JEOL新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的如*的空間分辨率、高穩定性、多種功能等性能的同時，操作性能*地簡單化。 該設備不依賴操作者的技能，始終能夠發揮其佳性能。

   

   

  JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡主要特點：

   

  ◇  Neo Engine（New Electron Optical Engine）

   

  新一代電子光學控制系統 Neo Engine（New Electron Optical Engine）， 是JEOL電子光學技術薈萃的結晶。 它綜合了透鏡控制系統和自動化技術，即使改變電子光學條件，光軸的偏離也極小，大大提高了可操作性及觀察精度。 無論是誰都可以很簡便地發揮出儀器原本的功能。

   

   

  ①   提高了自動功能

   

         樣品 : 用CP 制備的礦物截面（樹脂包埋）                 入射電壓 : 5 kV，檢測器 : RBED，觀察倍率 : ×100,000

   

        不僅提高了自動功能的精度，而且只需要幾秒鐘就可以聚焦。

   

  ②    提高了倍率的精度

   

         樣品 : 測長用的樣品（MRS5）     入射電壓 : 10 kV， 觀察倍率: ×50,000

        大幅度地提高了倍率的精度，而且實現了高精度測長。

   

  ③ 能量過濾器更加易用

   

       樣品 : 名片        入射電壓 : 1.5 kV， 檢測器 : UED， 觀察倍率 : ×3,500

   

       即使大幅度改變能量過濾器的設定值，視野或聚焦位置基本不會偏離。

   

   

  ◇ GBSH-S (GENTLEBEAM™  Super High resolution Stage bias mode)

  GBSH 是在低加速電壓下提高分辨率的一種方法。 新開發的GBSH-S可以給樣品臺施加高達5 kV的偏壓。 因此，使用GBSH模式不需要使用的樣品桿就可以無縫過渡到其他模式。

  ※GENTLEBEAM™ 通過給樣品施加偏壓，起到了對入射電子減速，對出射電子加速的作用。

  ◇ 新型背散射電子檢測器※ 選配件

   

  采用新開發的超高靈敏度的背散射電子檢測器，可以在清晰的襯度下進行觀察。 靈敏度比以往的產品提高了很多，特別是在低加速電壓下能得到高襯度的成分像。

   

  舊機型                                                                             新機型

   

       樣品 : Cu的截面             入射電壓 : 3 kV     觀察倍率 : ×10,000  WD： 4.5 mm

   

  ◇ 新型外觀設計

       外觀設計緊湊，大大節省了安裝空間，可以支持多種安裝環境。

  ◇ 新的樣品交換方式

       采用新設計的樣品交換系統（load lock），操作簡單了，不僅減少誤操作還提高了通量和耐用性。

   

  ◇ SMILENAVI

  SMILENAVI 是為初學者在短時間內學會基礎操作而開發的操作導航系統。 操作人員按照流程，只要點擊圖標，SEM操作畫面就會聯動，依照提示引導即可操作。

  ①   強調操作按鈕

  只要將鼠標光標挪到SMILENAVI的指南鍵上，SEM的GUI上的相應鍵會出現方框。

   

  在SMILENAVI指南里點擊按鍵后，SEM的GUI會變成灰色來強調相應鍵。

   

  ②   顯示照片

  在 SMILENAVI的指南 里點擊按鍵后，會顯示該按鍵位置的照片。

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浸沒式肖特基Plus FEG 通過與電子槍和低像差聚光鏡的組合，性能進一步得到改善，達到了更高的亮度。 能有效地收集從電子槍發射出的電子，即使在低加速電壓下，也能獲得數pA ～數10 nA 的探針電流，不用交換物鏡光闌也能進行高分辨觀察和快速元素面分布及EBSD 分析。

◇ ACL（光闌角控制鏡）

ACL（佳光闌角控制鏡）位于物鏡的上方，自動優化整個電流范圍內的物鏡光闌角。 因此，即使改變探針電流量，也能調整入射電子的擴散，始終可以獲取小的電子束斑。不管是高分辨觀察還是X 射線分析，對探針電流的大幅度變化都能輕松對應。