B36 XRF熒光光譜儀元素標準膜
- 公司名稱 北京沃達谷科貿有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 B36
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/11/2 11:45:34
- 訪問次數(shù) 1491
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供貨周期 | 一個月 | 應用領域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),石油 |
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奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備;具有膜層厚度控制精確,厚度均勻,性能穩(wěn)定等優(yōu)點,元素純度可達99.9%以上;同時綜合ICP和XRF等檢測技術,可精確標定薄膜標樣的負載量。
《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。
XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個負載量系列,其他負載量的產(chǎn)品可根據(jù)客戶實際需求定制。
可供應的XRF薄膜標準樣品的元素如下(可在表格內打√選擇樣品):
元素 | SL | VL | L | R | H | 元素 | SL | VL | L | R | H |
Na (NaCl) |
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| Co |
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Mg (MgF2) |
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| Ni |
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Al |
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| Cu |
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Si (SiO2) |
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| Zn (ZnTe) |
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P (GaP) |
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| As (GaAs) |
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S (CuSx) |
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| Se |
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Cl (NaCl) |
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| Sr (SrF2) |
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K (KCl) |
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| Br (CsBr) |
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Ca (CaF2) |
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| Cd (CdSe) |
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Sc (ScF3) |
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| Ba (BaF2) |
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Ti |
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| Pb |
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V |
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| Sn |
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Cr |
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| Sb |
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Mn |
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| In |
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Fe |
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| Mo |
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Ag |
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| Hg (HgTe) |
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可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設備,用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結果的影響;采用*標準樣品研究所提供的湖南重金屬污染標準土壤樣品,參考NIST 2783標樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品,可用于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日常質控工作。
XRF薄膜標準樣品的安裝形式:
安裝環(huán)尺寸(厚度為1.5mm的亞克力玻璃)
代碼 | 外徑(mm) | 內徑(mm) |
25 | 25 | 17 |
32 | 32 | 25 |
36 | 36 | 29 |
47 | 47 | 39 |
*36號尺寸。
方形:
50x50mm方形尺寸,內置?32mm的圓環(huán),代碼50。
支撐膜材料
代碼 | 支撐膜材料 | 備注 |
N | Nuclepore® polycarbonate | 氣溶膠多孔膜 |
M6.3 | 6.3μm厚度麥拉膜(Mylar) |
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M3.5 | 3.5μm厚度麥拉膜(Mylar) |
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M6.3型材料。
B |
A |
鍍膜方式:
代碼 | 鍍膜位置排列 |
A | 安裝環(huán)-元素膜-支撐膜 |
B | 元素膜-支撐膜-安裝環(huán) |