Compact 5 德國ROENALYTIC（宏德）Compact 5 X射線鍍層測厚儀
| 參考價 | ￥ 300000 |
| 訂貨量 | ≥1 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 儀高南儀器（深圳）有限公司
- 品牌
- 型號 Compact 5
- 產地 德國
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2015/10/10 20:35:36
- 訪問次數 628
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德國ROENALYTIC（宏德roentgenanalytik）Compact 5 X射線鍍層厚度和元素分析儀
Compact 5 X射線熒光分析儀/鍍層測厚儀/膜厚儀/元素分析儀
如需更詳細資料或報價請資詢：
Web: www.eastco-hk.com
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輕巧的設計，半開放式測試算，可容納大件的PCB產品，功能強大，可配合激光自動對焦，*自動樣品臺等功能使用。適合中小工件及PCB等產品行業。
其更新型號：Compact 5PIN更配備了半導體電子冷卻檢測器，令分辯率數倍提高，可測量非常薄的鍍層，滿足于半導體電子工業的應用。
規格參數：
高壓電源:25-50KV，1.2mA
X光管：鎢（W）靶,光點0.5mm*0.5mm
準直器：
單準直器：0.1mm或0.3mm或0.1*0.3mm
可選四個組合：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm或50um,75um*200um,150um*300um,300um或特別訂造
樣品臺：可選手動（NO XY,Z60mm）和全自動（ X 100mm，Ÿ85mm，Z 60mm）
樣品定位： 操縱桿，自動選位，激光自動對焦（需配合自動樣品臺）
放大倍數： 40 X / 80X
外型尺寸： H45 cm，W40 cm，D65 cm
樣品室（測試箱）： H 6 cm，W35 cm，D38cm
主電源： 110V/ 230V， 60HZ / 50HZ
X - MasteR： 操作系統 WINDOWS 2000 / NT/XP
u- MasteR： 測量模式：單層、雙層、三層、四層、合金層，可測元素范圍：Ti-U
Fun-MasteR：基本參數法（FP）校對模組，可實現標準片校對模式及無標準片校對模式
Element-MasterR：定性分析模組，一次zui多可分析20種元素（針對合金材料）
%-MasteR：定量分析模組，一次zui多可分析20種元素（針對合金材料）
Liquid-MasteR：電鍍藥液分析模組（針對藥液主成份金屬離子濃度）
Data-MasteR：資料統計模組，zui小值、zui大值、平均值、誤差，統計圖表CP、CPK等
Report-MasteR：報告編輯模組，文本格式，Word格式
樣品定位： 操縱桿，自動選位，激光自動對焦（需配合自動樣品臺）
放大倍數： 40 X / 80X
外型尺寸： H45 cm，W40 cm，D65 cm
樣品室（測試箱）： H 6 cm，W35 cm，D38cm
主電源： 110V/ 230V， 60HZ / 50HZ
X - MasteR： 操作系統 WINDOWS 2000 / NT/XP
u- MasteR： 測量模式：單層、雙層、三層、四層、合金層，可測元素范圍：Ti-U
Fun-MasteR：基本參數法（FP）校對模組，可實現標準片校對模式及無標準片校對模式
Element-MasterR：定性分析模組，一次zui多可分析20種元素（針對合金材料）
%-MasteR：定量分析模組，一次zui多可分析20種元素（針對合金材料）
Liquid-MasteR：電鍍藥液分析模組（針對藥液主成份金屬離子濃度）
Data-MasteR：資料統計模組，zui小值、zui大值、平均值、誤差，統計圖表CP、CPK等
Report-MasteR：報告編輯模組，文本格式，Word格式
多元合金或貴金屬成色分析：K金、純金、純銀、飾銀、銅材、鋼材等
多層電鍍厚度分析：Au/Ni/Cu/Fe/Cr/Ni/Cu/Zn等
自動計算可測厚度范圍
無論是很大的汽車部件、衛浴器具、PCB，還是很小的半導體支架、接插端子、金銀首飾，德國ROENALYTIC宏德公司都一一有理想的儀器去進行測量。德國ROENALYTIC宏德提供的都是高效率、低成本的測量儀器，它廣泛應用于各類電鍍工件的鍍層測厚及貴重首飾的成色分析，簡單易用，維修方便，是節省生產成本及保證品質的好幫手。
Compact 5標準配置包括：
適用于PCB,五金電鍍,電子元器件及貴金屬行業（全自動）
主機箱及電腦控制部份
主機箱尺寸 450 x 400 x 650 mm
（W） 鎢靶 X-射線管光點0.5mm*0.5mm 低損耗型，延長使用壽命
高壓發生器：25-50KV；max，1.2mA軟體控制
視像系統：彩色CCD攝錄鏡頭，視野8×6㎜,放大倍數：20X
類比計數器,單個準直器（0.3mm）
DELL電腦控制系統,19"LCD,彩色打印機
WINDOWS™ XP電腦系統軟件及X-MASTER基本分析系統軟件
安全性能：通過德國PTB安全驗證，
符合德國zui高安全法規標準，表面泄露少于1usv
U-MASTER 測厚模式：單層，雙層，三層，四層，合金層，
可測量元素:鈦（Ti）-鈾（U）
可測量厚度范圍: 原子序 22-25: 0.1-0.8um; 26-40: 0.05-35um;
43-52: 0.1-100um; 72-82: 0.05-5um.
誤差:表層+/-5%,二層+/-10%,三層+/-10%-15%
FUN-MASTER :基本參數法（FP）校對模組,可實現標準片校對模式及無標準片校對模式
Element-MASTER:定性分析模組，一次zui多可分析20種元素（針對合金材料）
%-MASTER:定量分析模組，一次zui多可分析8種元素（針對合金材料）
Liquid-MASTER:電鍍藥液分析模組（針對藥液主成分金屬離子濃度）
Data-Master:資料統計模組，zui小值，zui大值，平均值，誤差，統計圖表CP，CRK等
Report-Master:報告編輯模組，文本格式，WORD格式。
全自動樣片臺:X90 * Y90 * Z50, EASY LOAD,Z軸自動對焦.
以上配置供參考，具體以我司報價單為準，可根需用戶需要選配手動臺或配其它準直器
如需更詳細資料或報價請資詢：
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