三綜合試驗箱品牌
- 公司名稱 上海和晟儀器科技有限公司
- 品牌 HESON/和晟
- 型號
- 產(chǎn)地 上海
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/8/5 13:53:00
- 訪問次數(shù) 1191
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差示掃描量熱儀,熱重分析儀,導(dǎo)熱系數(shù)測試儀,炭黑含量測試儀,同步熱分析儀,拉力試驗機,高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,紫外老化試驗箱,臭氧老化試驗箱
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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產(chǎn)品簡介
三綜合試驗箱品牌是模擬GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件、GB/T10589-2008低溫試驗箱等技術(shù)條件;GB/T11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件制造,主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車(摩托車)、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。
本試驗箱適用于對產(chǎn)品(整機)、零部件、材料進行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗,以及恒定濕熱和交變濕熱試驗。
三、主要技術(shù)參數(shù) | |
3.1 工作室尺寸 | 3000×3000×3000mm (深×寬×高),內(nèi)容積約27m3 |
3.2試品尺寸 | 未提供 |
3.3 外形尺寸(約) | 根據(jù)現(xiàn)場安裝確定尺寸 |
3.4溫度范圍 | -50℃~+130℃ |
3.5溫度波動度 | ≤±0.5℃ |
3.6溫度均勻度 | ≤±2℃ |
3.7溫度偏差 | ≤±2℃ |
3.8升溫速率 | -50℃到130℃,≤60min(100Kg鋁錠,全程平均值) |
3.9降溫速率 | 20℃到-50℃,≤80min(100Kg鋁錠,全程平均值) |
3.10濕度范圍 | 20%R.H~98%R.H |
3.11濕度偏差 | ≤±3%RH (>75%RH) ;≤±5%RH (≤75%RH) |
3.12濕度波動度 | ≤±2%RH |
3.13配接振動臺尺寸 | 1200mm×1200mm |
3.15滿足標(biāo)準(zhǔn) | GB10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件; GB10592-2008高、低溫試驗箱技術(shù)條件; GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法; GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法; GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Cab: 恒定濕熱試驗方法; GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗Db: 交變濕熱; |
3.16驗收方法及依據(jù) | GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則; GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備; GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕度試驗設(shè)備; GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備; GB/T5170.19-2005電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備; JJF1270-2010 溫度、濕度、振動綜合環(huán)境試驗系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范; JJF1101-2003 環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范。 |