剪切電子散斑干涉術是一種測量離面位移導數場的激光干涉測量新技術。它除了電子散斑干涉術(ESPI，Electronic Speckle Pattern Interferometry)的許多優點外，還有光路簡單，對測量環境要求低等特點。由于剪切電子散斑干涉是測量位移導數，因此，在自動消除剛體位移的同時對于缺陷受載的應變集中十分靈敏，因此被廣泛地應用于無損檢測（NDT, nondestructive testing）領域。該儀器使用大功率綠色半導體激光器作光源，具有電子散斑條紋實時處理軟件，操作方便，便于攜帶，可用于現場測量。采用相移技術分析條紋，可獲得離面位移導數場的全場數據。

相移剪切電子散斑干涉儀主要技術指標及配置：

1.光源：半導體激光器，功率20mW，波長 532nm

2.定焦鏡頭： C接口, 配進口25mm定焦鏡頭

3.相機： 1280×1024 USB攝像頭

4.工作距離：400～1000mm

5.光學平臺：600mm×900mm

6.圖像采集分辨率：1280×1024

7.剪切角： 0°±5°連續可調

8.軟件： 條紋實時顯示，圖像處理軟件

9.演示試件： 圓盤受均布載荷

相移剪切電子散斑干涉儀主要配置

主機：1臺

25mm定焦鏡頭：1個

20mW半導體激光器：1臺

400mm*900mm光學平臺：1套

相移控制器：1套

圓盤受均布載荷試件：1套

筆記本電腦：1臺

條紋實時顯示軟件和圖像處理軟件：各1套

原理示意：

剪切散斑的基本原理是散斑照相和剪切機理的結合，它是在散斑照相的基礎上，通過不同的錯位元件，把單光束散斑變為雙光束散斑，因而它具有雙光束散斑的特性，即原始波面與錯位的波面之間將產生干涉。

離面位移梯度測量原理如圖2所示，物體A的散斑場經過小剪切棱鏡、偏振片和CCD的物鏡，在CCD攝像機的靶面上形成兩幅錯位量為Δ的像，并在CCD靶面上相干涉。