分析含量范圍 | 0.1%-99.9% | 價格區間 | 10萬-30萬 |
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能量分辨率 | 159或125eV | 行業專用類型 | 電子產品 |
儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領域 | 環保,化工,電子 |
元素分析范圍 | 13(Al)-92(U) | 重復性 | 5% |
測量時間 | 1-120秒 | 可測層數 | 多鍍層1-5層 |
平臺移動范圍 | 200mm*200mm*5mm |
X射線鍍層膜厚儀是一種用于精密測量金屬電鍍層厚度的設備。其工作原理基于X射線穿過薄膜后,會根據薄膜的材料和厚度發生不同程度的吸收。膜越厚,吸收的X射線越多;膜越薄,則吸收的X射線越少。通過測量通過薄膜后的X射線強度的變化,可以得到薄膜的厚度信息。
型 號:iEDX-150WT
生 產 商:韓國 ISP 公司
特點:該型儀器采用開槽式大平臺設計,適合測試扁平狀大面積樣品,適合線路板及連接器行業的鍍層厚度管控。
(一)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產品優勢
1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高。
2. 平臺尺寸:620*525mm,樣品移動距離可達 110*110*5mm。(固定臺可選)
3. 激光定位和自動多點測量功能。
4. 可檢測固體、粉末狀態材料。
5. 運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低。
6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。
7. 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。
8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
9. 軟件升級。
10. 無損檢測,一次性購買標樣可長期使用。
11. 使用安心無憂,售后服務響應時間 24H 以內,提供*保姆式服務。
(二)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術指標
1. X 射線管:高穩定性 X 光光管,微焦點 X 射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口, 陽極焦斑尺寸 75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設定為應用程序提供良好性能。
2. 探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
3. 濾光片/可選
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
(三)X射線鍍層測厚儀測量原理