電子探針X射線顯微分析儀
- 公司名稱 北京中科光析化工技術(shù)研究所-J
- 品牌 Agilent/安捷倫
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2019/4/29 17:13:10
- 訪問次數(shù) 1498
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價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 國產(chǎn) |
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儀器簡介:電子探針X射線顯微分析儀不僅有較高的X射線檢出角,同時由于使用全聚焦的X射線分光晶體,能兼顧X射線檢測的高靈敏度和高分辨率,并配有高穩(wěn)定的電子光學系統(tǒng),真空系統(tǒng)及高精度機械系統(tǒng)以及牛津X-射線電制冷能譜儀,是目前*的微區(qū)成分定量分析和形貌觀察的大型科研儀器之一。
儀器主要特點及技術(shù)指標:
l分析元素范圍: 4Be~94Pu
l電子束流穩(wěn)定性:好于1.5×10-3/H
l二次電子像分辨率:6nm
l加速電壓:0~30kV
lX射線檢出角:52.5°
l放大倍數(shù):50×~300,000×
l分析速度:自動全元素定性分析時間≤60s
l大樣品尺寸:100mm´100mm´50mm
l樣品臺小移動間距為0.01微米,機械系統(tǒng)精密度高
l可觀察二次電子像(SEI),背散射電子像(BEI),吸收電子像,光學顯微像,X射線面分布像等。兼顧微區(qū)成分定量分析和形貌觀察
儀器主要功能及其用途:
l非破壞分析(分析時,被分析樣品不會損壞,可以實現(xiàn)同點重復分析)
l微米尺度的空間分辨分析
l輕元素的定量分析
l元素的面分布分析
l痕量元素的成分分析
l精細結(jié)構(gòu)分析
電子探針X射線顯微分析儀適用于材料(陶瓷,合金,半導體材料等)以及礦物、巖石等固體材料的微區(qū)化學組成定性和定量分析,微區(qū)化學組成線分析,微區(qū)化學組成面分析以及材料、礦物和巖石等的微區(qū)形貌觀察、成分分布圖像等,是對試樣微區(qū)組織結(jié)構(gòu),表面形貌觀察及元素定量分析的有效手段。