QEMSCAN 650F巖芯、巖屑自動定量分析系統
- 公司名稱 北京源海威科技有限公司-J
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2019/3/20 10:07:33
- 訪問次數 877
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供貨周期 | 現貨 |
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一、設備介紹
QEMSCAN 650F巖芯、巖屑自動定量分析系統是一個高速自動化的礦物參數自動定量分析系統。能對樣品進行礦物物質組成、巖石特征、成份定量、礦物嵌布特征、礦物粒級分布、礦物解離度等重要參數進行自動定量分析,主要用于石油、礦業、冶金、地質等領域。
QEMSCAN 650F巖芯、巖屑自動定量分析系統在石油領域的應用包括:
1)鉆芯、鉆削礦物組成、巖石類型分析
2)鉆井數據集累
3)石油、天然氣勘探
4)石油、天然氣資源、藏量評估
5)生產井位置選擇
6)卡鉆事故預防
QEMSCAN巖芯、巖屑分析系統采用FEI公司Quanta 650F 場發射環境掃描電鏡作作為主要的硬件平臺。Quanta 650F 場發射環境掃描電鏡利用電子束激發樣品產生的二次電子、背散射電子以及X射線等信號,以獲得樣品表面形貌,結合能譜儀等分析儀器可以對微區成分進行檢測,是用于試樣的顯微形貌觀察及微區成分分析的*手段,除氣體以外的試樣均可用掃描電鏡進行觀察。在石油天然氣領域,Quanta 650F適用于觀察非常規油氣樣品的微納米孔隙結構、大小、類型、微裂縫發育等;用于研究微納孔隙及縫隙上附著的水、油或瀝青,對巖石孔隙的含水飽和度及含油飽和度等進行研究
二、QUANTA 650F多用途掃描電鏡主要參數
1、電子光學
1)高分辨率肖特基場發射電子槍
2)加速電壓: 200 V - 30 kV
3)束流: 大200 nA并連續可調
4)放大倍數: 6 x 1,000,000 x (四幅圖像顯示)
2、分辨率
1)30 kV下 3.0 nm(背散射探頭)
2)30 kV下 1.0 nm(二次電子探頭)
3)3 kV下 3.0 nm(二次電子探頭)
3、檢測器
1)高靈敏度、低電壓固體背散射探頭
2)二次電子探頭
3)樣品室紅外 CCD 相機
4、真空系統
1)樣品室真空度 (高真空模式) < 6e-4 Pa
2)樣品室真空度(低真空模式) < 10 to 130 Pa
3)樣品室真空度(環境真空模式) < 10 to 4000 Pa
5、樣品室
1)左右內徑 379mm
2)10 mm 分析工作距離
3)10個 探測器 / 附件接口
4)EDS 采集角: 35°
6、樣品臺
1)X/Y = 150 mm
2)Z = 65 mm
3)Z向間隙 93.5mm
4)傾斜:- 5° - + 70°
5)連續旋轉 360°
6)復精度: 2 μm (X/Y 方向)
7)偽全對中樣品臺
7、SEM 計算機
Windows 7操作系統
8、能譜儀
1)雙硅漂移探頭
2)超快速脈沖處理
3)電制冷 (無需液氮)