珀金埃爾默Avio 200電感耦合等離子體發射光譜儀ICP-OES系統能處理難度高的、未經稀釋的高基體樣品，為ICP帶來全新的性能及靈活性。
而且，*的性能還帶來了*的易用性。*的硬件特性與業界直觀易用的軟件相結合，使多元素測量變得與單元素分析一樣簡單。
作為市場上小巧的Avio 200電感耦合等離子體發射光譜儀可通過以下性能，提供高效的操作、較可靠的數據和低的擁有成本：
•所有ICP中低的氬氣消耗
•較快的ICP啟動（從關機狀態啟動，光譜儀在短短幾分鐘內即可準備就緒）
•對所有適用的元素都具有出色的靈敏度與分辨率
•具有雙向觀測技術的寬線性范圍
•性能可靠、功能強大、經濟實惠、Avio 200 ICP-OES具備您所尋求的ICP所具有的一切。

強大的雙向觀測功能
與提供軸向和徑向觀測而犧牲性能的同步垂直雙向觀測ICP系統不同，Avio 200 ICP-OES系統獲得專業的雙向觀測功能，可測量所有波長，不會造成光或靈敏度的損失。即使是波長大于500納米或低于200納米的元素也*可以測量，即便是在ppb的含量水平。珀金埃爾默Avio系統*的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態范圍，確保實現：
•樣品制備和稀釋小化
•高、低濃度可以在同一運行中進行測量
•更好的質量控制和更準確的結果
•減少重復運行
集成等離子體觀測相機
可簡化您的開發方法，同時借助Avio 200 ICP-OES系統的PlasmaCam™技術，盡享遠程監控等離子體的便利。
作為行業*，彩色相機可幫助您：
•實時觀測等離子體
•執行遠程診斷
•查看進樣部件
革新性PlasmaShear系統，可實現無氬干擾消除
為了消除軸向觀測的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比Avio 200ICP-OES更有效、更可靠或更經濟。
其他ICP消除尾焰需要消耗高達4升/分鐘的氬氣流量，Avio系統*的PlasmaShear™技術只需空氣即可。無需高維護、高提取系統或錐體。就是一個*集成的、*自動化的、能提供*軸向分析的干擾消除系統。
CCD檢測器，可實現的準確度和精密度
借助全波長功能，Avio 200 ICP-OES系統的強大電荷耦合器件（CCD）檢測器能不斷提供正確的答案。
Avio ICP-OES系統的CCD檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍，實時扣背景，實現出色的檢測精密度。在分析過程中，它還可以同時執行背景校正測量，進一步提高準確度和靈敏度。
帶有快速轉換炬管底座的垂直等離子體，可實現的基體靈活性
即使ICP正在運行，Avio 200 ICP-OES系統的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調節，可提供更大的樣品靈活性并簡化維護。
炬管底座的設計與眾不同，具有以下特點：
•一個可拆卸的、獨立于炬管的中心管，旨在減少維護和破損的可能性
•自動自對準，即使在拆卸后也能提供*的深度設置
•兼容各種霧化器和霧室，可提高靈活性